使用STM32cubeMX的库读写FLASH数据

做项目时有时候需要对一些数据进行掉电可存储，一般来说可以把这些数据存储到到EEPROM或FLASH，这次项目中我使用到的芯片是STM32F051C8T6，只有64KB的FLASH，没有EEPROM。这个时候就需要考虑FLASH的读写操作。

什么是STM32CubeMX？

STM32CubeMX是以HAL库为基础，进行上层的硬件和软件框架设计的图形化软件配置工具，使用图形化向导生成C初始化代码，可以根据设计生成硬件管脚定义及软件BSP工程包，支持IAR-ARM、MDK-ARM、Ac6等IDE开发环境。

下载地址点击这里。

这次项目使用的是STM32F051+STM32CubeMX+keil 5开发。

首先简要写一下FLASH的读写流程

• 对FLASH写入数据

1. 解锁FLASH

2. 擦除FLASH

3. 写入数据到FLASH

4. 锁住FLASH

• FLASH读取数据
  直接读取相应的FLASH地址即可

这是我使用STM32CubeMX的HAL FLASH库的流程，其他STM32库可能有所差异，但是肯定有解锁、擦除、写入、上锁这几个步骤的。

下面放上代码清单和测试流程

uint32_t writeFlashData = 0x55555555;

uint32_t addr = 0x08007000;

//FLASH写入数据测试

void writeFlashTest(void)

{

//1、解锁FLASH

HAL_FLASH_Unlock();

//2、擦除FLASH

//初始化FLASH_EraseInitTypeDef

FLASH_EraseInitTypeDef f;

f.TypeErase = FLASH_TYPEERASE_PAGES;

f.PageAddress = addr;

f.NbPages = 1;

//设置PageError

uint32_t PageError = 0;

//调用擦除函数

HAL_FLASHEx_Erase(&f, &PageError);

//3、对FLASH烧写

HAL_FLASH_Program(TYPEPROGRAM_WORD, addr, writeFlashData);

//4、锁住FLASH

HAL_FLASH_Lock();

}

//FLASH读取数据测试

void printFlashTest(void)

{

uint32_t temp = *(__IO uint32_t*)(addr);

printf("addr:0x%x, data:0x%xrn", addr, temp);

}

之后在主函数里添加下面测试流程：

void main(void)

{

//flash TEST

writeFlashData = 0x55555555;

writeFlashTest();

printFlashTest();

writeFlashData = 0xaaaaaaaa;

writeFlashTest();

printFlashTest();

while(1);

}

设置好串口，打印

addr:0x8007000, data:0x55555555

addr:0x8007000, data:0xaaaaaaaa

成功！

其中比较特殊的是擦除步骤，需要定义个FLASH_EraseInitTypeDef的数据，FLASH_EraseInitTypeDef有三个成员：TypeErase、PageAddress和NbPages。

其中，TypeErase有两个选项，页擦除和块擦除：

#define FLASH_TYPEERASE_PAGES ((uint32_t)0x00) /*!

#define FLASH_TYPEERASE_MASSERASE ((uint32_t)0x01) /*!

PageAddress是设置FLASH地址，这里为0x8007000；

NbPages为擦除页数（块数），这里为1;

另外还需要定义一个uint32_t变量——PageError，如果出现错误这个变量会被设置为出错的FLASH地址。

0x8007000是STM32的一个内存映射地址，其指向FLASH memory，如图：

这个地址也要考虑芯片的FLASH大小，比如我这次用的芯片FLASH大小是64KB，0x0801 0000-0x0800 0000=0x10000，正好等于64KB。

在《STM32F05x参考手册》中，我选的0x8007000是这么一个位置，是FLASH地址的最后一块扇区的起始位置。

如果使用上面的示例代码读写FLASH不成功，也请考虑一下FLASH的大小和地址设置。