基于ARM的条码精密测量系统———基于ARM的条码精密测量系统

［编辑简介］：本文提出了一种基于ST半导体公司的32位高性能处理器STR912FW44X6的测量系统方案。 系统测量算术偏差在±0.3mm内，即现有系统的分辨率约为0.3mm。［摘要］：本文介绍了一种基于32位高性能处理器的视觉精密测量系统的软硬件设计.图像传感器采集的条码图像通过精密定位算法得到绝对位移值,由以太网接口实现高速图像采集.该系统适用于高精度定位的各种位移测量.［关键词］：ARM,嵌入式系统,视觉测量,条码