IC CHINA 2015展商巡礼:普迪飞半导体

21ic讯 IC China 2015及同期活动第86届中国电子展、2015亚洲电子展将于11月11日-13日在上海新国际博览中心隆重举行。届时，普迪飞半导体技术(上海)有限公司将进行一个测试优化管理软件(Exensio-Test)及一个云端数据管理分析软件(Exensio-Yield Hosted)的中国首发，帮助国内企业加快推进智能化生产管理控制及数据分析等半导体大数据平台搭建、应用的步伐，助力中国制造2025的实现。

PDF Solutions公司简介

PDF Solutions(普迪飞半导体技术有限公司)是一家拥有专有技术及强大软硬件产品的半导体产业跨界整合技术服务公司。提供的服务旨在帮助客户快速定位和解决包括产品设计验证、新工艺开发、启动和量产等各环节问题，帮助客户降低IC设计和制造成本，加快产品上市速度和提升利润空间。

其主要产品包括：用于先进工艺研发和生产控制的定制化测试芯片(简称CV®);业界领先的大数据分析及良率管理系统：Exensio-Yield;基于SaaS模式的半导体云端数据管理及分析系统：Exensio-Yield Hosted; 全方位测试优化和管理解决方案：Exensio-Test;可扩展的故障检测与分类(简称FDC)软件解决方案：Exensio-Control。

Exensio-Yield 应用于晶圆代工厂及领先的芯片设计公司内部进行半导体数据分析;

Exensio-Yield Hosted应用于晶圆代工厂及芯片设计公司进行数据管理及分析;

Exensio-Test应用于晶圆代工厂及测试工厂改善测试机台效率控制;

Exensio-Control应用于晶圆代工厂进行生产线实时监控;

CV 应用于晶圆代工厂及领先的芯片设计公司进行新工艺的引入开发及量产监测。

展会重点展示方案：

Exensio-Test是一个全方位测试优化和管理解决方案，为IDM、Fabless及OSAT客户提供包括管理，控制和优化操作流程的先进的企业级测试能力。Exensio-Test模块支持测试台操作以及自适应测试和分析技术。客户可以在测试期间查看诊断和预测信息，从而最大限度地改善测试操作，生产效率和产品良率。Exensio-Test客户通过对测试仪配置、测试数据管理以及其他测试台管理操作等进行优化以提升测试的整体设备效率。

Exensio-Test模块现已面向全球部署和供应，它可以帮助半导体厂商提高测试的效率和质量，同时还能享受以下这些好处：

优化对测试探针设置的选择和模拟，以及测试仪/探针台的参数，从而实现减少测试时间;

洞悉不同外包商和内部测试平台之间测试台效率差别，并提供实时警报和相应对策;

充分利用从晶圆测试阶段到最终测试阶段的生产数据，结合强大的数据挖掘、数据分析和先进的自适应测试功能，从而寻找到问题的根本原因;

通过推动和不断优化自适应测试，并结合PDF Solutions的Scribe CV技术，以共同实现优化OEE，单位小时测试数量，生产效率和产品良率的目标。

Exensio-Yield Hosted是基于SaaS模式的企业级云端数据管理及分析系统，可以让选择瘦客户端架构的设计及制造用户可以随时随地访问他们的数据，并利用定制化的高度互动表征和根源分析工具，快速查找问题根源，对解决问题形成有力指导。

dataConductor的主要特性包括：

可快速部署且可扩展的SaaS模式;

已获专利的高度优化"大数据"仓库;

高度互动的表征和根源分析工具;

聚焦、直观、深入挖掘的生产面板。

全面融入中国市场，贴合国内企业，提供符合国情的软件及服务是PDF Solutions今后几年的重要发展方向之一。本届展会上PDF Solutions重点展示的Exensio-Test 和Exensio-Yield Hosted正是PDF为中国的广大设计公司、IDM及OSAT量身打造的高效智能生产管控工具。未来，PDF将着力发展为芯片设计企业提供从设计、验证、生产、测试、封装到失效问题分析定位的全方位整合及效率优化服务。