爱德万 半导体测试设备领导者

Advantest爱德万测试自1954年成立以来，始终专注于提供电子产业与相关领域之专业量测技术，在秉持「提供先进技术」的理念下，积极开发客户所需解决方案，并与合作供应夥伴携手并肩成长，创造超越夥伴们期待的价值，Advantest不遗余力地投入最新技术的研发，至今已成为半导体测试设备市场领导者。

随市场环境快速变迁，爱德万测试体认到最大的挑战不应仅止于承担风险，此信念鞭策其不断开发业界未曾涉足的新领域，对于2014年的营运方向，爱德万拟定了ACT2014计划，中期目标是达到2500亿日元销售额、20％以上的营利率，并在整体测试系统与分类机市场上占有50％以上的市占率；同时也将全力抢攻新市场，以推升成长动能。除了兆赫波光谱造影分析系统系列之外，还陆续推出了即时性随需测试服务CloudTestingTM Service（在今年的半导体展也有展示）、运用压电致电原理的高频MEMS继电器，以及其他许多革命性产品与技术，爱德万测试表示将会继续运用多年累积的专利技术投入能源、医疗等新领域，确保企业朝向永续发展长期目标迈进。

爱德万指出，凭藉多年广泛深耕各种领域所累积的技术实力，研发出真正符合客户需求之解决方案，目前专精的领域包括半导体研发与制造、高功能电子元件、制药分析等产业，产品种类包含MVM-SEM多视角扫描式电子显微镜，（可对晶圆、光罩及奈米压印主印模进行即时3D奈米图样影像量测。MVM-SEM注一：为Advantest Corporation在日本、美国及其他国家/地区的注册商标或商标）、Cross Domain AnalyzerTM跨域分析仪（此电子量测设备可在单一独立工具上量测高频讯号相位与振幅。爱德万测试跨域分析仪为高频应用领域的全新量测仪器产品，可用于电子系统电磁干扰解析及电浆设备和加速器校正）、测试系统（爱德万半导体测试系统广泛应用于半导体元件设计、研发及制造，是业者确保品质不可或缺的一环，已跃居全球测试领域龙头地位。注二：根据VLSIresearch统计，爱德万测试在2012年半导体测试系统市场中市占率排名第一）、电子束微影系统（主要应用于半导体材料奈米图样蚀刻制程，电子束微影术为生产半导体晶圆、矽晶光罩及奈米压印母模所需之技术，最适合用于新元件原型开发和少量多样制程）、兆赫波光谱造影分析系统（此系统可提供多功能高速分析，并利用兆赫波执行光谱造影，操作简单，可对药物化学样品、高阶通讯材料及其他物质进行非破坏性高速分析）、测试分类处理机（可将封装后半导体以大批量方式送往测试系统，筛除瑕疵元件，留下良品；爱德万测试的测试分类机具有高精准度温控技术，及领先业界的视觉对准功能，有助于降低半导体量产成本）、元件介面装置（此装置为连接半导体元件与测试系统之间的电子与机械元件，如针测卡、Hifix以及测试载具（Change Kit） 等。由于半导体体积日趋缩小，使元件更显复杂、更多样化，因此测试介面装置必须精确符合高速、高容量元件的特性和形态）、MEMS微机电系统元件（此设备可提升爱德万测试独有电子元件的应用领域，爱德万测试所研发的超精巧宽频MEMS继电器，具有省能源、高可靠性、耐环境性等特性，并采用压电薄膜生成专利技术，为预定上市的电子元件系列中第一款可支援先进技术的产品）。

Advantest表示，未来将持续精进以保持量测技术领先地位，同时透过创新，为社会打造一个安心、繁荣的环境。