巨有与致茂合作 突破IC测试技术瓶颈

巨有科技（PGC）近日宣布，己与致茂电子（Chroma）展开紧密合作。巨有选购致茂的Chroma 3650平台，以提供其消费型电子产品及其他装置的工程测试使用。Chroma 3650配备完整的测试模组，如逻辑模组、ADC/DAC模组、ALPG记忆体模组、高电压电流模组和SCAN模组，可大幅降低产品原有的工程开发及量产测试成本。

附图 : Chroma 3650测试机台

巨有科技表示，随着SoC奈米化，除了使IC的设计难度提高以外，IC测试及验证工作也往往比IC设计开发更花费时间，在IC产品测试部份则相对增加其技术难度及所需的成本。因此，如何有效协助顾客解决及突破IC测试方面的技术瓶颈，成为现今IC设计厂商要面对的重要课题。巨有选购Chroma 3650平台，使其具备高产能及多功能的晶圆片和封装成品测试能力，以适应目前对价格日益敏感的市场变动及需求。