法国MVG携明星产品StarLab首秀2016北京EDI CON

全球微波测量行业专家、天线测试测量行业领先企业——法国Microwave Vision Group(以下简称MVG)宣布将携其明星产品StarLab系统登陆北京EDI CON(电子设计创新会议)，并同期举办一系列活动以全面展示MVG技术创新的能力。这不仅是MVG的30年创新之旅的结晶，也是对法国MVG(SATIMO)集团成立30周年的献礼。MVG的展位号是437。

MVG集团主席Philippe Garreau先生将亲临展会现场，他指出：“北京电子创新设计大会堪称业界最重要的展会之一。今年是MVG参加该年度盛会的第四个年头，我们不仅带来了首次在中国展出的产品——最新版StarLab系统，也会和业界友人分享我们MVG集团30年来所积累的创新成果，以及对新技术、行业新趋势的洞察，并共同探讨未来测试测量行业的发展新思路。”

StarLab - 世界同类首创系统尽展骄人风采

为了让中国业界对这一明星产品有更深入的了解，MVG技术应用团队不仅在4月19日下午的“紧凑便携式天线测量系统改变传统天线测量”主题演讲中进行详细介绍，还特别举办免费“StarLab现场测试活动”。即通过互动形式，MVG技术专家为成功申请“现场天线测试”的企业进行免费天线测试测量。StarLab系统无需暗室便可进行天线测量，所申请测试的中小型天线的测量直径不得超45厘米，天线的宽带频率范围在650 MHz到18GHz之间。

全球领先有源天线测试为业界带来技术福音

作为CTIA/3GPP在有源天线测量标准制定中的主要贡献者，MVG也是全球独家提供基站有源天线测试技术(AAS testing)的天线测试测量系统厂商。在展会期间，由MVG法国资深技术专家Nicolas Gross先生以及来自意大利和中国的天线测试技术负责人组成的科研小组将在全球首次举办以“有源天线系统基站OTA测试”为主题的技术研讨会。与会者将有机会近距离了解近场测试系统的细节，透视针对有源天线系统OTA测试的多探头近场测试技巧。技术专家还将提供测试程序以及初步结果以供与会者参考。MVG现提供特别VIP的研讨会邀请，申请方式：www.mvg-world.com/aas-testing-workshop。

客户为本引领创新之路

法国MVG自成立以来，秉承客户利益最大化的宗旨，一直坚持创新，公司业务从最初的电磁测量发展到涵盖了大型天线测量系统、电波暗室，再到随身携带的个人射频测量设备的诸多领域，为相关行业的客户提供端到端的解决方案。

MVG集团主席Philippe Garreau先生表示，“我们始终坚持把业界领先的创新产品和技术带给客户。三十年来，创新使得MVG实现了诸多突破，至今已经获得20多个专利，在帮助客户实现业务发展之际，也不断引领着行业和市场的发展。未来，我们还会继续围绕客户的需求不断地对我们的产品和服务进行创新，以期为客户提供更先进、更高效，而又兼具长期经济效益的产品和服务。”

自2004年进入中国，中国市场已经成为MVG日益重要的战略市场。在天线测量领域，MVG在中国市场已有超过150个客户，涵盖教学单位、研究院、航空国防等领域。

MVG集团主席Philippe Garreau先生补充道，“MVG的核心力量，其一在于领先的创新技术，即能精确测量并且赋予天线更高性能的天线测量系统突破性技术，堪称是行业发展的突破。其二则是我们的团队。MVG之所以能多年赢得客户的信任和认可，不仅归功于卓越的产品，更归功于优秀的团队。中国的团队分布在上海、北京、广州、深圳、西安等地，与客户的密切沟通与合作使得他们能够深入了解客户的需求，对产品、技术、应用及行业发展有更全面的认知，成为公司发展的中流砥柱。随着5G应用时代的到来，电信行业以及各行各业对微波辐射测量的需求更为广泛，也更为严苛，MVG将会充分利用我们特有的两大核心力量帮助中国企业应对5G 带来的诸多挑战，同时也促进行业和社会的发展和进步。”

关于StarLab

法国MVG的StarLab系统可对中小型天线进行方向图测量，最适合空间有限、注重成本并且需要灵活的便携式系统的实验室和生产环境。它通过控制装置驱动两个定位马达和探头阵列进行电子扫描，只需待测天线 (AUT) 做180°方位角的机械旋转，即可进行完整的球形测量，全面的3D测量赋予了其更快的测试速度;通过增加一个线性扫描组件，StarLab从球形近场测量转变成圆柱形近场测量系统，该系统特别适合于条状天线测量(如：基站天线)。此外，StarLab可以同时执行TRP和TIS的测量。针对TIS测量或其他受外部干扰困扰的测量，StarLab有配置小型屏蔽室可供选择。

为了更好地优化测量结果，MVG推出了全新OTA测试专用套装软件WaveStudioTM，该软件专为StarLab系统和5G测量系统而设计，特别适合于测试在空间性能模式下的无线设备，在简化用户界面的同时，提供了CTIA认证所需的测量的软件向导方便测量过程。