三洋采用DFT MAX改善测试质量

    全球电子设计自动化软件工具（EDA）厂商Synopsys近日宣布，三洋半导体公司采用Synopsys的DFT MAX扫描压缩自动解决方案，大大提高了其数字设计的测试质量。凭借DFT MAX工具，三洋的工程师们将测试的数据总量降低了90％以上，实现了以更短的时间完成高质量测试的目标。DFT MAX工具充分利用Synopsys Galaxy™ 设计工具集内部的物理识别连接，帮助设计者避免成本较高的迭代测试，更快实现设计收敛。
 
    三洋的工程师们要求灵活地生成更多的测试模式，并在必要时，对大规模集成电路（LSI）进行最高质量的快速的测试。但他们发现，如果没有有效的方法来压缩数据以适应测试程序的存储限制，提高测试质量将导致测试数据量剧烈增加。
 
    三洋系统解决方案事业部总经理Hiroyuki Oike 先生表示：“我们发现，将DFT MAX工具添加到我们的Galaxy设计平台流程中，可以满足我们对高质量目标的追求。在全面评估了DFT MAX的片上压缩功能之后，我们决定将其应用于未来所有的LSI设计当中。”
 
    三洋设计人员需要的解决方案不仅要满足他们对数据压缩的需求，同时还要像传统的测试一样实施起来简单易行。DFT MAX不仅简便易用，同时还可以与Galaxy设计平台中的其它流程有效实现无缝整合，这大大加快了三洋设计人员向DFT MAX迁移的速度，并在两个LSI数字设计中将测试数据量降低了90％以上。这两个LSI设计分别为400万门级的通信处理芯片和200万门级的数字图像处理芯片。对于这两种设计，DFT MAX仅需要追加0.1％和0.2％的门级用于压缩处理。
 
    三洋设计工程部的数字设计科长Yuji Shiine先生表示：“我们之所以采用DFT MAX，是因为我们可以改善复杂设计的质量，缩短测试时间，并减少测试数据量。DFT MAX可以轻松地整合到我们原有的DFT Compiler™ 流程中，迁移非常简便。总之，我们在今后将同时应用DFT MAX及其它Galaxy解决方案中的工具，以持续改善我们产品的质量和技术差异性。” 
  
    Synopsys芯片设计解决方案部测试营销总监Graham Etchells先生认为：“三洋采用DFT MAX工具，使我们确实看到了市场对简便易用、快速实施并且不影响芯片物理实现的压缩解决方案的需求，由于DFT MAX的简便易用和压缩结果高可预知的特点，能够为我们的客户立即带来实质性的投资回报。此外，由于DFT MAX在Galaxy工具集中具有的物理识别连接的优势，其在芯片的物理实现方面所产生的时间和空间影响微乎其微，从而实现了快速的设计收敛。比较而言，需要连续逻辑的压缩架构则需要更多的迭代来完成时序收敛，因而延长了整个设计周期。”