泰克推出下一代DDR3探测解决方案

21ic讯 泰克公司日前宣布，推出用于逻辑调试和协议验证的下一代DDR3探测解决方案，采用了泰克TLA7000系列逻辑分析仪支持DDR3-2133 MT/s和DDR3-2400 MT/s。这是目前市面上性能最高的DDR3协议测试解决方案。

通过推出针对DIMM接口的新型高速DDR3直插式夹具，泰克使客户能够重新使用其现有的TLA7BBx模块，来采集所有DDR3速度的存取、控制、命令及数据信号（从DDR3-800 MT/s到DDR3-2400 MT/s以及低压DDR3）。该新型直插式夹具是首个使用泰克超高性能SiGe混合ASIC技术，在每个DDR3 I/O通道提供真正模拟洞察力的产品。与其他商业直插式夹具解决方案相比，该新直插式夹具减少了探头负载，以保持信号完整性。

计算机行业所有细分市场对更快和更高内存容量以及更低的功耗都有着强烈的需求。JEDEC继续向DDR3标准添加更高速度等级，并且正在向新的DDR4规范过渡。凭借其新型直插式夹具架构，泰克现在不仅支持目前的更高速度DDR3要求，而且为快速支持即将出台的DDR4标准搭好了平台。

泰克公司数字分析产品线总监Dave Farrell表示：“业界正在努力推动DDR3内存性能提升，以满足更加苛刻的应用要求。我们的DDR3解决方案以业内领先价位，向设计工程师提供了用于DDR3接口逻辑调试和协议验证的最完整的高性能工具。我们在支持高速DDR3以及新出台的DDR4标准方面占有非常有利的地位。”

完整的协议和分析解决方案
针对DDR3的更新、更高速度等级的协议分析和调试，对于想方设法加快产品上市速度的半导体厂商、OEM和系统制造商来说都是一大挑战。该新直插式夹具与来自泰克合作伙伴Nexus Technology的全套工具，提供了针对所有DDR3流量的轻松设置和分析功能，显著加快了产品上市速度。

这些工具包括以下功能：
• 可自动确定和设置合适阈值及样点值的样点分析工具；
• 新的ICI工具可以用眼图的方式查看DDR3信号，以帮助快速评估总线健康状况，也可以为边缘系统和非标准速度系统选择合适的采样点/阈值；
• 可解码DDR3总线流量，以显示模式寄存器信息和DDR3命令，且能读写数据的DDR3内存支持工具包；
• 新的协议违规软件，可提供基于多次采集的DDR总线规范参数的测量，测量类别多达43种；并提供各种DDR总线流量统计分析。

TLA7BBx逻辑分析仪模块具有同步3.0Gbps状态采集、20ps高速定时可视性和3GHz BW模拟测量功能等特性；而且全都基于同一探头。使用内嵌的模拟多路复用器，用户能够在不到10分钟时间内，在一台示波器上单步调试和观察所有DDR3信号，从而获得对内存信号完整性的洞察，而这要是用其他方式话，可能需要花几小时甚至几天时间。工程师还能观察与逻辑分析仪上采集的状态数据时间相关的模拟示波器波形。