信号源综合分析的高端技术

频率合成技术是雷达、通信等电子系统的关键技术之一，很多现代电子设备和系统的功能实现都依赖于所用的频率合成器的性能。频率合成器作为核心部分，对它的指标要求也相应地越来越高。同时，随着通信技术的发展，数字调制信号的应用也越来越广泛。这些都对信号源的研发和设计带来更大的挑战。

为了满足现代频率源研发生产的测试需求，罗德与施瓦茨公司推出了具有信号源综合分析功能的高端测量仪器R&S(R)FSUP，其单台仪器测量频率高达50GHz，同时是市场上迄今唯一一台集相位噪声测试仪、矢量信号分析仪和频谱分析仪功能于一体的测量仪器。

相位噪声测量

在相位噪声测量中，如果需要更高的精度和更大的动态范围，更为准确的是采用锁相环(PLL)或相位比较器测量方法。相位比较器方法通常需要复杂的测试装置，并且对测试仪进行校准所涉及的工作量显著大于使用频谱分析仪的工作量。R&S(R)FSUP可以改善这种情况，因为只需按下一个按钮即可完成所有的相位比较测量工作。另外，R&S(R)FSUP还是一个非常灵活的工具。它可以轻松地改变测试设置以满足特定要求，可以选择使用外部或内部参考源，并且可以方便地配置带宽、滤波器类型、平均数目以及测量频偏范围等测量参数。

在测量相位噪声的过程中，通过内部高效的算法，可以检测并列出由电源纹波或鉴相频率等引起的杂散干扰，也可以通过运算消除这些杂散信号对相位噪声测量的影响，还原更真实相位噪声特性。

不仅如此，R&S(R)FSUP同时具有可以测量残余相位调制和残余频率调制(残余FM/φM)的特性。它能够测量信号源的均方根抖动(jitter)特性，可以是整个测量频偏范围内的特性，也可以自定义某一特定频点或频段范围内的抖动特性。这为工程师在信号源的调试过程中观察某一杂散信号对信号抖动的影响提供了很大的方便。

信号分析功能

为了满足对信号源调制特性的分析和测量，R&S(R)FSUP集成了信号分析的能力。R&S(R)FSUP不仅可以解调分析各种通信标准信号，同时还可以测量和解调一般通用矢量调制信号。通过对被测信号源的相位噪声和EVM(误差向量幅度)的同时测量，研发人员更能掌握相位噪声对EVM的影响，从而在它们间找到一个合理的平衡点。

为了进一步满足在射频微波系统研发过程中遇到的其他测量要求，配上R&;S的智能型NRP系列功率探头，R&S(R)FSUP就可以进行高精度的功率测量。不仅如此，连接上噪声源后，R&S(R)FSUP还可以测量放大器或其他射频模块、接收前端的噪声系数和增益特性。

完整的高端频谱分析仪

在频率源或者是其他射频微波电路的测试中，一台高性能的频谱仪是必不可少的测量仪器。而R&S(R)FSUP内置包含了一台高端频谱仪的完整功能,不仅可以测量各种频谱特性如信号源的谐波，三阶交调特性、杂散信号,还可以轻松测量调制信号的占用带宽、邻信道抑制比、信噪比等特性。

高达50MHz的中频带宽(RBW)，在采用时域功能(ZeroSpan)测量脉冲信号的时域特性时，能够测量到更窄的脉冲信号。

总的来说，R&S(R)FSUP不仅仅是传统意义上的信号源分析仪。它不仅具有用传统信号源分析仪的相位噪声、压控振荡器(VCO)、瞬态特性的测量功能，同时具有完整的频谱仪功能积极矢量信号分析功能。这些集各大仪器功能于一身的特点，为信号源的综合分析提供了极大的方便。信号源分析仪RS(R)FSUP代表着信号源分析的现代甚至是未来的技术发展方向，更为集专业性与多功能性于一身，为从事频率源甚至为整个射频电路的研发和生产提供强大高效的测量方案。