瑞萨通过Mentor Graphics公司TestKompress/LogicBIST混合解决方案以降低成本、提高品质

这种混合方法要求的测试逻辑非常少，从而提供完整的解决方案：既包括用于实现低每百万缺陷数量(DPM)的高压缩率扫描测试、又有内置自检(BIST)。Mentor的混合测试功能非常适合于汽车等行业的高可靠性应用。

“压缩扫描测试与逻辑BIST的组合，给瑞萨提供了一种高品质解决方案，既可用于生产测试，亦可用于汽车行业ISO 26262标准要求的上电自检(Power-On Self-Test)，”瑞萨电子公司系统集成业务集团设计自动化部首席教授Toshiharu Asaka说。“采用Mentor的集成解决方案而非分开进行ATPG压缩和BIST实施，瑞萨还可简化其DFT实施流程，从而降低测试逻辑所需的die区，节约开发者的时间，加快上市。”

Tessent TestKompress/LogicBIST混合解决方案提供现场系统自检，并由压缩ATPG进行补充，这样即使是在测试器存储和接口受到限制，比如在老化测试(burn-in test)的情况下，也可达到最高的测试品质。该解决方案可生成集成了嵌入压缩逻辑的LBIST逻辑，同时自动生成压缩100倍及以上的目标“补充(top up)”模式，以补充LBIST伪随机模式。该混合解决方案能减少生产测试时间与成本，同时实现低DPM和系统中测试的功能。

“对于不仅要在生产线上进行非常细致的测试，也需要在开始使用后能进行自检的IC产品来说，这种Tessent混合方法是减少测试成本和测试时间最高效的方法之一，”Mentor Graphics公司副总裁兼Design-to-Silicon部门总经理Joseph Sawicki说。“作为额外的好处，设计师们还可以节省实现这些测试功能所需逻辑的数量，同时享有一个经简化的实现过程。”

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