爱德万STC开放测试平台先进技术交流会…
时间:2003-12-02 10:59:23
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[导读]半导体测试联盟(STC)开放测试平台先进技术交流会在上海集成电路行业协会召开。本次会议由英特尔和爱德万测试联合主办,上海市集成电路行业协会指导。爱德万测试上海有限公司市场部部长林川主持会议。STC董事会成员,
半导体测试联盟(STC)开放测试平台先进技术交流会在上海集成电路行业协会召开。本次会议由英特尔和爱德万测试联合主办,上海市集成电路行业协会指导。爱德万测试上海有限公司市场部部长林川主持会议。STC董事会成员,来自英特尔美国的Michael Kienitz做了主题为“Semiconductor Test Consortium Update”的精彩演讲,他介绍了英特尔公司在STC中的作用,回顾了STC在2002年的战略及所取得的成果,并对2003年的发展作了展望。爱德万测试上海有限公司SE技术部徐勇部长介绍了传统测试系统面临的挑战,“OPENSTAR TM r”开放式的软硬件架构,爱德万测试在STC中的作用等。来自著名大学,研究所,测试公司的业界精英人士参加了本次介绍会。本文摘自《半导体技术》





