Advantest推出存储器测试仪

Advantest日前宣布，在全球市场上推出最新型T5372型存储器测试仪，公司宣称，其可以为DRAM、SDRAM、DDR、闪存存储器及其他通用存储器芯片，包括多芯片封装及其他特殊封装存储器，减少超过30%的晶圆测试时间。T5372测试仪提供143MHz的测试速度（在DDR测试模式下能达到286MHz，是其前一代产品速度的两倍，T5371型产品能支持当前日益增加的高速仪器，并具有可选择的错误分析功能包括误码率压缩引擎（可以加速错误数据的传输率），并标注错误存储器地址（允许分隔失灵存储器双模操作）。允许并行测试128位以上仪器，T5372型支持一个或两个测试基站，每一个基站最大32DC单位和128克编程电源。T5372型测试仪同时还保持了与T5371型的兼容性，并可与客户已有的设备共同使用，包括测试程序和探测板卡等，可支持无缝升级。