Xyratex选择GE制造硬盘测试系统

目前，由于急需创建和存储数字数据，市场上对于存储介质的需求也持续增长。为此，传统的硬盘测试系统经受着巨大的压力——因为系统需要不断地进行人手装卸，而某些测试线只能测试特定的硬盘类型。现在，Xyratex公司设计出了XCalibre非同步硬盘测试系统，来应对这些新兴的挑战。这一先进的全新解决方案是部分地建立在已被证明的GE材料技术之上。通过采用GE高新材料集团生产的LNP* Stat-Kon* DC FR合成物，Xyratex为XCalibre系统开发出紧凑抗压的外壳。LNP Stat-Kon 合成物的导电特性，可以最大程度地减少静电对硬盘造成的损害。这种合成物可以免去初始充电、消除摩擦生电，并提供漏电绝缘和接地通路的保护。作为金属和其它较重材料的轻型替代物，LNP Stat-Kon 合成物同时具有很高的强度和极好的可塑性，非常适应于紧凑设计的薄壁部件的制造。这一材料还具有极佳的抗蠕变性能，可以确保产品尺寸的稳定性。除此之外，LNP Stat-Kon DC FR合成物还有阻燃的功用。Xyratex首席工程师Paul Mann说：“GE高新材料集团和LNP Stat-Kon合成物对于我们而言至关重要，有助于我们生产全球领先并满足对自动非同步硬盘测试系统需求的产品，”他指出，“LNP Stat-Kon可以进一步保护我们的XCalibre客户免遭静电破坏，而且具有硬度高、强度大、壁薄和可塑性强等特点。”GE高新材料集团LNP特种合成物总经理Nitin Apte说道：“GE产品线日益扩展，表明其在全球电子行业中的地位日益提升，因为这一行业对于材料性能的要求越来越高。我们致力于通过提供高品质的创新材料以及全球OEM厂商认可的专业知识，来帮助我们的客户应对这些挑战。”