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[导读]AI集群机架功耗突破100kW并向吉瓦级演进,传统风冷方案在CPO架构面前已彻底失效。共封装光学(CPO)将光引擎与交换芯片封装在同一基板上,将电信号传输距离从数十厘米压缩至数毫米,但这一集成化带来的副作用是功率密度的指数级攀升。51.2Tbps CPO系统中,单个交换芯片功耗已达750W,热通量高达1.79W/mm²,而紧邻的光模块却对温度极其敏感,要求工作温度接近室温。这一热管理困境已成为制约CPO规模落地的关键瓶颈。

AI集群机架功耗突破100kW并向吉瓦级演进,传统风冷方案在CPO架构面前已彻底失效。共封装光学(CPO)将光引擎与交换芯片封装在同一基板上,将电信号传输距离从数十厘米压缩至数毫米,但这一集成化带来的副作用是功率密度的指数级攀升。51.2Tbps CPO系统中,单个交换芯片功耗已达750W,热通量高达1.79W/mm²,而紧邻的光模块却对温度极其敏感,要求工作温度接近室温。这一热管理困境已成为制约CPO规模落地的关键瓶颈。

CPO热管理困境的物理根源

在传统可插拔光模块方案中,交换芯片与光模块在空间上分离,允许各自采用独立的散热方案。CPO将两者共封装在同一基板上,这一架构重构打破了光电器件之间的空间隔离。交换芯片运行时产生的大量热能通过基板和封装直接传导至光模块,产生了严重的热串扰。

光器件的温度敏感性使得这一问题尤为突出。DFB激光器的波长漂移系数约为0.08-0.1nm/K,温度变化直接导致发射波长偏移,在密集波分复用系统中可能造成信道间串扰[ citation:5]。研究数据表明,激光器失效占光模块宕机原因约90%,75℃连续工作条件下,激光器5年失效率较25℃时飙升约40倍[ citation:6]。

更严峻的是功耗增长曲线。Supermicro与Micas Networks在OCP 2025峰会上指出,当前AI机架功耗已从传统数据中心的8kW飙升至100kW,单颗ASIC芯片功耗已达1500W,未来6000W级芯片的出现将使液冷成为唯一选择[ citation:4]。

分立式液冷:打破热串扰的关键设计

中科院微电子研究所薛海韵团队针对CPO架构的特殊散热需求,提出了分立式液冷协同散热方案[ citation:1][ citation:3]。核心设计原则是:将交换芯片与光模块的热管理路径彻底分离,避免高热流密度芯片影响温度敏感的光器件。

该方案采用两套独立热沉:交换芯片端使用歧管微通道热沉(Manifold Microchannel Heat Sink),通过优化歧管布局和微通道结构强化传热;光模块端采用并联微通道热沉结构,确保冷却液以相同温度流入各模块,实现温度均匀性[ citation:1]。

歧管布局的优化对散热效率至关重要。仿真对比了六种歧管设计,“一进一出”式布局散热效率最佳,“一进两出”式次之且压降增加有限。为进一步提升热点区域传热性能,研究者在芯片中心热点区域采用波浪形微通道结构,其余区域保留直型通道,既增强散热又控制压降增幅[ citation:1]。

实测数据:51.2Tbps CPO系统的液冷验证

该方案在51.2Tbps CPO系统上完成了仿真与实验双重验证[ citation:3][ citation:7]。系统包含一个750W交换芯片(热通量1.79W/mm²)和8个光模块(总功耗64W,热通量0.2W/mm²)。

4L/min流速条件下,交换芯片结温为97.3°C,光模块最高结温仅31.3°C,模块间温差控制在1.2°C至2.4°C之间[ citation:1][ citation:3]。实验验证显示温度仿真误差小于4%,压力变化趋势与实验一致,验证了模型的可靠性[ citation:3]。

在更低功耗配置下的数据同样亮眼:12.8Tbps系统中,290W ASIC芯片结温仅51°C,16颗光芯片温度分布在28°C至29°C之间,最大温差仅0.6°C[ citation:5]。这两组数据证明,液冷方案可在不同规模CPO系统中同时解决大功耗芯片降温和光器件均温两大需求。

产业化实践与系统级协同

行业正将CPO与液冷的协同从实验室推向规模化部署。古河电工在OFC 2026上发布的VCSEL基CPO收发器,采用一体化液冷冷板设计同时为光收发器与交换ASIC散热,实测器件工作温度稳定在40°C以内,大幅提升了VCSEL阵列的波长稳定性[ citation:9]。

Micas Networks与Supermicro联合推动的“CPO+液冷”方案展示了显著的商业价值:128端口400G CPO交换机功耗为1626W,较同规格传统交换机(3267W)节省50.23%[ citation:4]。在吉瓦级数据中心中,液冷方案带来的功耗节省可转化为额外算力部署能力——40万GPU集群中,液冷可额外容纳20万个GPU[ citation:4]。

电子科技大学团队指出,当前CPO热管理的瓶颈不仅在于技术本身,更在于电学、光学、封装工程领域各自为战,缺乏系统级热管理协同[ citation:6]。未来需从器件级、封装级到系统级建立一体化热管理设计框架,将热管理从“被动应对”升级为“主动设计”。

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