是德科技完善信号源分析仪系列产品，应对无线、雷达和高速数字应用的需求

•一体化的相位噪声和信号源分析解决方案将频率扩展至 26.5 / 44 / 54 GHz 及更高，同时兼具一流的相位噪声灵敏度

•配有可选双端口矢量网络分析仪的集成平台，支持对单端口/双端口器件进行评测

•时钟抖动分析软件可为当前和先进的高速数字应用提供便捷、深入的抖动分析

是德科技(Keysight Technologies, Inc.)日前推出三款更高频率的 SSA-X 信号源分析仪(26.5 GHz、44 GHz 和 54 GHz)，为从事前沿无线通信、雷达和高速数字应用分析的射频工程师提供了强大的相位噪声和信号源一体化集成分析解决方案。

技术一直在持续发展，新的前沿标准不断涌现，因此工程师需要利用更精确、更干净的信号源进行分析测试。这些信号源的相位噪声和抖动应尽量低，以便支持更高频率、更大数据带宽和更快速率。对这些信号源的相位噪声和抖动进行测试和评测，通常需要用到多种仪器，设置过程也十分复杂，耗时耗力。射频工程师还需要进行其他测量，例如频率和功率瞬态测量以及频谱分析，以便全面表征合成器、时钟和振荡器等产品的性能。此外，工程师可能需要测量信号和数据传输路径中的有源器件的残余相位噪声。

Keysight SSA-X信号源分析仪系列新增的这些高频型号提供了一体化集成平台，可通过直接数字合成(DDS)源和专有互相关通道输出非常干净的信号，从而帮助工程师应对这些前沿应用中的挑战。

新型 Keysight SSA-X 系列信号源分析仪

这些新型 Keysight SSA-X 系列信号源分析仪拥有下列优势：

•一体化集成解决方案——使用一台仪器即可提供全面的信号源分析，包括相位噪声测量、残余噪声测量、瞬态测量、频谱分析、网络分析和压控振荡器(VCO)性能分析。内置的干净信号源工作频率高达 54 GHz，并配有双路射频输入，无需使用其他设备或进行重新配置，即可执行残余噪声测量。两路本振(LO)输出和中频(IF)输入端口与是德科技的新型 E5051AW 相位噪声测量下变频器/鉴相器相结合，能够在高于 54 GHz 的频率下进行毫米波相位噪声测量。另外，还可选配双端口矢量网络分析仪(VNA)，无需再单独购买 VNA。

•出色的相位噪声灵敏度——使用超低相位噪声内部本振(LO)和射频源，提供准确的绝对相位噪声和残余相位噪声测量。

•配有灵活的软件，简单易用——只需单次连接，便可通过简单易用的界面快速完成多项测量。应用软件经过增强，可以满足更多的测量需求，包括频谱分析仪功能和精确的时钟抖动分析。

•精确的时钟抖动分析——在时域和频域中提供准确的随机抖动(RJ)和周期抖动(PJ)测量。SSA-X 测量抖动的灵敏度比 SSA 高 20% ，在 10 GHz 频率下的灵敏度达到 2 飞秒，适合用于先进的高速数字通信应用。

是德科技副总裁兼高频测量中心总经理 Joe Rickert 表示：“SSA-X 系列信号源分析仪为射频工程师提供了一款一体化集成解决方案，可为先进的通信和高速数字应用提供相位噪声和抖动测量解决方案。新推出的这三种型号工作频率高达 54 GHz，使 SSA-X 系列可实施更准确、更优质的评测，加快尖端技术产品的上市时间。”