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[导读]接上一篇,尽管14条RTD测量通道的温度测量误差曲线具有一致的趋势,但由于产量的变化,它们的斜率和截流量在一定程度上有所不同。为了对这一过程产生的所有RTD测量通道进行误差补偿,需要找到14条温度测量误差曲线所包围的区域的中间曲线。更合适的方法是使用一个分段函数来描述错误函数,它分为两个部分:零和零。

接上一篇,尽管14条RTD测量通道的温度测量误差曲线具有一致的趋势,但由于产量的变化,它们的斜率和截流量在一定程度上有所不同。为了对这一过程产生的所有RTD测量通道进行误差补偿,需要找到14条温度测量误差曲线所包围的区域的中间曲线。更合适的方法是使用一个分段函数来描述错误函数,它分为两个部分:零和零。

首先,观察零度以上的温度测量误差曲线.温度测量误差在0-140℃之间的变化是一个接近二次函数的曲线。 error (T) = AT2 + BT + C (T > 0).

本文选择0℃时第三大和第三小误差值的平均值作为误差函数的常量C值。选择0℃误差的原因是,0℃时RTD的电阻值是它的名义电阻值。没有选择最大和最小误差的两个RTD测量通道的原因是它们更有可能是缺陷的。第二大和第二小误差值也可能具有特异性。因此,选择了第三大和第三小误差值.据认为,大多数好产品的误差范围(-0.04680℃,+0.08392℃)是由第三大和第三小误差值包围的。因此,取中点0。作为补偿,01855°C可以在0°C时最大限度地优化大多数好产品的性能。

系数A和B是通过曲线拟合得到的,如图8所示。曲线拟合中使用的离散点是在每个固定温度值上测量的14个误差值的平均值。在零度以上有10个固定温度值,因此曲线拟合基于这10个离散点的最佳拟合,曲线拟合的相关系数为0.9989。最后,将误差函数确定为方程7.

图8温度测量误差曲线拟合图

观察零度以下的温度测量误差曲线.可以看出,温度误差不会随温度在-25℃和0℃之间发生变化。因此,零以下的误差曲线是一个接近常数的函数 error [T] = D (T < 0). 同样,误差函数中的D值被确定为0℃时第三大和第三小误差值的平均值。最后,将误差函数确定为公式8.

误差补偿后的准确性改进

在得到误差函数后,我们在微控制器程序中使用它来补偿温度测量值。当我们得到由ADC转换的二进制数据时,我们计算由方程3和4测量的t,然后用方程8对误差进行补偿。换句话说,我们使用相同的误差函数来校准所有的RTD温度测量通道,这是一种节省时间和提高精度的校准方法,可以补偿整个测量范围内的误差。

此处:

测量的T’值是误差补偿后的测量值,其他变量在前面定义。最后,我们需要验证使用错误函数的补偿是否有效.通过从真实值中减去补偿测量值,可以得到补偿后的测量误差,如公式10所示。

这里:

错误[T] 是T(°C)误差补偿后的误差,其他变量是前面定义的。

根据表5所示的组合方法,我们选择了9台RTD和3台AD7124-8设备组成9个RTD温度测量通道。在恒温器中放置了rtds,并选择了与以前相同的高于零的固定温度值进行温度测量。

表5ADC通信通道组合(验证)

RTD
EVB
ADC
rtd1
EVB1
CH0
Rtd2
EVB1
CH1
Rtd3
EVB1
CH2
Rtd4
EVB2
CH0
Rtd5
EVB2
CH1
Rtd6
EVB2
CH2
Rtd7
EVB3
CH0
Rtd8
EVB3
CH1
rtd9
EVB3
CH2

我们观察了温度测量误差在零以上范围内的补偿效应.初始温度测量误差和补偿后的误差分别见图9和图10。

图9初始温度测量误差(T&T;0℃)。

图10补偿后的温度测量误差(T&T;0℃)。

图中显示的结果表明,当温度在0-140℃之间时,误差补偿可以在这一温度范围内将温度测量误差从-0.8℃降至+0.2℃至-0.3℃至+0.15%。

然后,观察零度以下温度范围的温度测量误差补偿效应,选择相同的固定低于零度温度值进行温度测量。图11和图12分别显示初始温度测量误差和补偿温度测量误差。

图11初始温度测量误差(T<0℃)。

图12补偿后的温度测量误差(T<0℃)。

图中显示的结果表明,当测量的温度在-25℃至0℃的范围内时,误差补偿可以使误差从-0.1℃至+0.15%℃至-0.15%℃至+0.1℃。

总之,在-25℃至+140℃的温度范围内,温度测量误差用误差函数补偿后,可以保持在-0.3℃的范围内,在-25℃至+140℃的温度范围内,9个RTD温度测量通道中的8个通道可以保持在-25℃至+140℃的温度测量误差范围内,这大大提高了温度测量的准确性。

引进新产品

基于AD7124-8,ADI开发了一种新型芯片AD4130-8,具有超低功耗和尺寸小的特点。如数据表所示,当启用内部振荡器和内部引用时,PGA增益=1至16的连续转换模式下的典型耗电量为35倍A。在负荷周期比为1/4的模式下,典型的耗电量降至11-1,而在负荷周期比为1/16的模式下,典型的耗电量仅降至4.35-1。这种强大的性能可以在一个只有3.6毫米x2.74毫米的WLCSP包件中实现。

类似地,AD4130-8也适用于温度测量,所以我们把rtd9插入AD4130-8Evb板,形成一个温度测量通道。AD4130-8被配置为10sp,SINC3数字滤波器,全功率模式,PGA增益=1,励磁电流=200a,它使模拟输入缓冲区和参考电压缓冲区。

测试了AD4130-8温度测量系统的噪声性能。我们记录了100个温度数据样本,速率为10秒,持续时间为10秒。结果见图13。

图13AD4130-8噪声图。

如图13所示,在上述配置下,Ad4130-8测量的100个样本的尖峰至尖峰噪声值为0.04℃。这一数值略高于Ad7124-8,但随之而来的是电力消耗的大幅减少。

此外,还测量了AD4130-8温度测量系统的温度测量误差。将rtd9置于恒温器中,选择15个固定温度值,与以前一样,在-25℃到+140℃之间,并记录每一温度下rdd温度测量通道的温度测量误差。此外,我们还比较了结果与从rtd9和Ad7124-8形成的温度测量通道获得的温度测量误差曲线。结果见图14。

如图所示,在-25℃至+140℃的温度范围内,AD4130-8系统的温度测量误差与AD7124-8系统的温度测量误差无显著差别。

图14AD4130-8温度测量系统的误差曲线(-25℃<<140℃)。

结论

在本文中,我们选择了ptfd101b1a0RTD温度传感器,并将其与ADC7124-8相结合,形成了一个温度测量系统,目的是最大限度地减少误差源。详细介绍了该芯片及其外围器件的优化配置.通过实际试验,验证了本文设计的温度测量系统的优良性能:制造过程中不需要校准过程;测量的温度误差可以保持在-25℃到+140℃的温度范围内。选择高成本效益的RTD、ADC和周边设备,使整个温度测量解决方案具有成本效益,同时保持高精度。

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