待测器件降低测试成本的“秘密武器”

[导读] 消费电子产品，如手机、PDA数码相机以及便携式娱乐系统，正在变得更小、更快和更便宜，而且这类新产品的面市时间也比以往更短了。为了与时俱进，半导体、无源和有源器件行业正不断推动其研发工艺向集成度和复杂度更

消费电子产品，如手机、PDA数码相机以及便携式娱乐系统，正在变得更小、更快和更便宜，而且这类新产品的面市时间也比以往更短了。为了与时俱进，半导体、无源和有源器件行业正不断推动其研发工艺向集成度和复杂度更高的水平进步。这种在更小的空间内集成更多电路技术的进步，实现了在系统芯片(SoC)[1]上集成模拟、数字甚至射频电路。类似地，分立器件制造商也在单一芯片上集成了多个部件，从而实现更高的电路密度。

通常，随着待测器件(DUT)[2]复杂度的增加，所需的测试数量和复杂程度也随之增加。对于电子和电气部件测试制造商来说，为了降低整个制造成本，必须千方百计地降低测试成本，这往往使他们面临压力，这可能是一个重大问题。尽管增加测试吞吐量对于降低测试成本至关重要，但这只是其中的一部分。降低测试成本通常意味着使用较少的工厂占地面积、在更短的时间内测试更多的器件。它还意味着更高效地使用和重用测试设备。

对于测试系统设计来说，这些要求对降低测试成本意味着什么呢?

• 更多的管脚数量和更高的测试复杂度要求在有限的空间内为测试系统分配更多的资源和测试通道，使得系统密度日益重要。

• 新部件研制步伐加快，为每个新部件设计专用系统如果不是不可能，也已经变得不切实际了。为了测试多个器件类型以及利用最小的系统重新设计满足新器件需求，迫切需要灵活、可扩展和可重构系统。

• 要尽可能地使用商用可用的测试设备，而不是定制设备，实现设备重用的最大化。

• 具有并行测试能力的多通道测试系统允许对复杂IC或SOC的不同部分进行并行测试，能够大大提高吞吐量。

• 另外一个提高吞吐量的方法是：使用那些允许将完整的测试程序下载到仪器内存的仪器，从而使系统控制器用于执行其他功能。

直到最近，也几乎没有为多通道源测量应用而优化的解决方案——测试工程师只好选择以下的解决方案:

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利用PC控制，实现基于仪器的相对简单但较慢的系统。

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利用定制触发器、数字I/O和通信控制器，实现基于仪器的快速但复杂的系统。

• 基于大型机的高度集成且快速的系统，但这往往性价比很低，且占用空间很大。