NI 成功举办第十届“中国 PXI 技术和应用论坛”

由美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)主办的第十届“中国 PXI 技术和应用论坛” (PXI Technology & Application Conference，即 PXI TAC)于 2013 年 5 月 28 日在北京万达索菲特大饭店成功举办，超过 500 名工程师和技术人员到场参加。作为在业届享有盛誉的连续举办十年的 PXI TAC 活动吸引了共计 14 家国内外知名 PXI 供应商和系统集成商及13 家业内知名媒体参加，是历届之最。

在活动当天早上的主题演讲中， NI 核心平台和仪器研发部副总裁 Robert Canik 先生，NI 中国技术市场工程师姚远先生及特邀嘉宾 —— 来自中国计量科学研究院信息计量研究室主任卞昕博士分别进行了精彩的演讲。PXI 作为一个已被广泛应用的模块化平台，能够融合最先进的商业技术，实现在平台和产品上的不断更新，让更多的应用在 PXI 平台上得以实现，使得摩尔定律在自动化测试和控制领域得以延续。而 NI 作为推动 PXI 平台发展的最主要力量之一，长期以来通过基于平台的图形化系统设计的方法加速工程师和科学家们对于测量与控制系统的开发，通过简化系统复杂性，加速最新技术应用，以及构建生态系统来鼓励创新。NI 长期以来在 PXI 硬件平台以及 LabVIEW、Teststand 等软件平台上的投资能够更好得为中国工程师和科学家们提供一个高效的平台和工具，无论是在生产测试领域还是科研领域，都能够帮助用户实现生产效率的回报并鼓励更多自主创新。

全天活动围绕自动化测试平台及行业应用专题展开，共计 20 场的技术讲座和精彩的动手课程，为观众打造了一个 PXI 最新技术与应用的交流盛宴。射频是 NI 一直关注的领域，为了能帮助更多射频用户解决实际工作和项目中的难点和问题，NI 利用 PXI TAC 这一平台特别设置了“射频专家面对面”活动，力邀来自射频与微波领域的资深工程师与客户面对面地探讨射频与微波领域的前沿技术和最新应用。

十年磨一剑， PXI TAC 活动走到 2013 年已经是第十个年头了。随着 PXI 技术的不断发展， PXI TAC 活动的规模也不断扩大，行业内的知名度也不断提高。在今年的 PXI TAC 十年寄语部分，很多客户将他们对PXI 技术和 PXI TAC 的感情诉诸笔端，表达了他们对于 PXI 平台高效、平稳及准确性能的认可及对于 PXI TAC 这一活动一直以来为业内人士提供的交流平台的感谢，并且共同希望 PXI 技术能够获得快速发展，PXI TAC活动也能不断再创 辉煌。

通过今年的 PXI TAC 活动，可以看出越来越多的厂商和客户参与到 PXI 技术的开发和应用中。根据会议现场的调查结果显示，高达 99% 的用户对本届 PXI TAC 表示了肯定，认为此次活动对实际工作有很大帮助。