丰田引进爱德万的功率IC用半导体测试仪

时间：2013-12-05 05:55:00

关键字：丰田测试仪半导体测试 IC

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[导读]日本爱德万测试公司2013年12月2日宣布，丰田采用了该公司的半导体测试仪“T2000 Integrated Power Device Test Solution”（以下称T2000 IPS）。T2000是爱德万的主力产品之一，通过更换测试仪模块便可满足多种半导体

日本爱德万测试公司2013年12月2日宣布，丰田采用了该公司的半导体测试仪“T2000 Integrated Power Device Test Solution”（以下称T2000 IPS）。T2000是爱德万的主力产品之一，通过更换测试仪模块便可满足多种半导体测试需求。

此次的T2000 IPS采用了面向车载相关器件、电源管理IC及电源开关类器件的构成。通过将多种检测资源集成于一个模块，并将周边电路控制到最小限度，实现了业界最多级别的同时检测个数。另外还通过采用自主开发的电路技术，使等待时间较以往的系统大幅缩短。

丰田2年前引进了“T2000 IGBT Test Solution”，该产品采用的是面向IGBT测试的构成。而此次引进T2000 IPS是为了对混合动力车等使用的功率IC等实施评价及量产测试。据爱德万介绍，T2000 IPS具备新一代车载关键器件的测试系统必备的可确保高品质的灵活性、性能及功能，是今后保障车载器件安全不可或缺的装置。（记者：小岛郁太郎，Tech-On！）