NI发表2012年嵌入式系统与自动化测试展望报告

美商国家仪器(NI)发表了 2012 年「嵌入式系统展望报告」与「自动化测试展望报告」，分别列出多家公司的结论与嵌入式系统产业的方向，以及最新测试/量测技术成果。
NI的「嵌入式系统展望报告」报告针对新一代嵌入式系统的开发作业，列出科技与商业层面的相关趋势。能源、运输、生命科学、工业级控制等公司，均可针对多种嵌入式监控应用而利用此份资讯。透过此份报告，工程师与经理人可策略性的建构最佳实例，以利开发并维护创新的嵌入式系统。

NI的2012年「嵌入式系统展望报告」提及下列主要趋势：行动装置与云端－－在新一代的嵌入式系统中，设计团队将延伸利用新款行动装置与云端技术。透过软体满足未来需求──由于嵌入式系统的需求与标准不断改变，设计团队将倾向以「软体优先」的前提而升级产品。 小型团队亦可达到创新目标──小型设计团队将为公司建立更高效率的方法，缩短创新概念的上市时程。可重设的运算──高阶嵌入式监控系统正逐渐增加可程式化逻辑的比重。嵌入式平台──技术厂商所开发的平台，亦企图整合硬体与软体框架，以协助设计团队建立複杂的嵌入式系统。

2012年NI「自动化测试展望报告」则说明多个产业的趋势，包含通讯、汽车、半导体、航太/国防、医疗装置、消费性电子。透过此份报告，工程师与管理阶层将可了解最新策略，另有测试作业的最佳化实例。此份报告共分为 5 大项：商业策略、架构、运算、软体、I/O。并将讨论下列主要趋势：

测试组织最佳化──各家公司均审慎评估测试工程与战略性资产，以期能于高竞争性的环境中杀出一片天。设计流程中的量测与模拟──以完整模型搭配实际量测，将提升产品品质并缩短开发时间。PCI Express外部介面──电脑内部的高速、低潜时汇流排，可强化外接介面而提升新的系统拓扑。行动装置迅速普及──目前几乎已达「人手一支智慧型手机，所有背包都装了1 台平板电脑」的情况，同时正改变着测试系统的监控方式。可携的量测演算法──新的工具将仅需开发一组量测 IP，却佈署到各式各样的处理元件中。

2012 自动化测试展望报告，是根据学术/产业研究、使用者讨论/调查、业务情报、客户建言所归纳而得。此份报告所提供的资料，将可协助建构未来的产业趋势与技术，以期解决测试产业的业务与技术难题。自动化测试报告属于 NI Test Leadership Council 的一部份。NI 将跨越不同产业领域，与全球数千位的客户合作出最佳实例，最后再与大家分享。

NI Test Leadership Council 的方式是邀请测试产业的领导厂商齐聚一堂一同讨论，如此也得以得知商业与技术的重要资讯。Test Leadership Council包含技术交流、互动网路、领导厂商高峰会等活动。