思达科技积极拓展日本半导体市场

思达科技于「SEMICON JAPAN 2010」展示新版Windows 7 之参数与可靠度测试软体与系列先进探针卡。思逹科技参与在日本东京幕张国际展览馆举办之「SEMICON Japan 2010」。此展会为日本业界的年度盛会，思达科技借此展现研发生产的实力，并以高品质产品，拓展当地半导体市场。会中首次除公开展示全球业界首款因应微软Windows 7 的半导体参数与可靠度测试软体 – STAr Sagittarius 7 (人马座第7代)，并搭配安捷伦(Agilent B1500A)测试设备与自有品牌之先进测试探针卡，共同展出。

思达科技日本总经理西鹤和法先生表示，?我们很高兴能参与SEMICON Japan 2010，将最新一代的人马座系列，以及自行生产的测试探针卡系列，介绍给日本半导体业界。其中Sagittarius 7，为全球首款针对Windows 7 推出的半导体参数与可靠度测试软体，其完美整合多种参数测试仪器与矩阵器，是先进的半导体测试管理解决方案，也正是市场积极寻求的测试系统。经由此盛会，我们积极并成功地扩展了品牌与产品知名度。」

Sagittarius Series (人马座系列) 是思达科技开发之智慧型测试系统软体，能将电流电压(IV)与电容电压(CV)半导体晶圆测试整合于单一平台，! 提升生产效率，目前已获得多家晶圆代工、整合元件厂(IDM)以及IC设计厂商认使用。新版人马座第七代是针对Windows 7 推出的半导体参数与可靠度测试软体，其结合微软最新的软体技术与思达科技的人工智慧测试平台，加以提供人性化的操作介面与多功能应用程式，能满足元件特性量测、制程稳定性监控、SPICE模拟电讯提取、可靠度验证，以及与系统无缝结合的各种应用程式等多元需求，给客户完美的使用经验。思达科技Sagittarius 7在此日本半导体展中更获得多家日本IDM客户的青睐，并决定在不久的将? 岩H采购运用。

而陈列的测试探针卡，则为思达科技自行开发与制造之产品，其自有技术已能提供不同的应用范围，含括晶圆电性参数(WAT – Wafer Acceptance Test)与元件可靠度(WLR – Wafer-Level Reliability)测试、超高频率逻辑IC及Direct Docking测试需求先进测试探针卡等等不同功能之系列产品。借此于日本半导体业界之公开资讯，思达展现于半导体测试领域的研发与技术，以及提供客户全面而完整产品及服务的实力。