2011深圳安捷伦测试测量大会绽放电子测量的魅力

2011年9月8日，安捷伦测试测量大会——深圳站如约而至。本次大会以“绽放电子测量的魅力”为主题，从智能手机，到平板电脑；从移动通信测试大全，到元器件与材料测试的深入解析；从毫米波应用的尖端测试设备，到灵活配置的新型模块化方案；从真实硬件模拟带宽高达32GHz的高性能实时示波器、DANL可逼近到-172dBm理论极限值的高端频谱分析仪，再到基于PNA-X的非线性网络测试划时代的创新产品；从宽带复杂信号产生与分析，到高速数字总线的测试方案……全方位的展现了安捷伦电子测试测量的魅力。以下三项技术，在本次大会上为大家留下深刻印象。

安捷伦从2010年10月至今已推出50余款 PXI 和 AXIe 产品，将测试与测量系列产品扩展到模块化产品领域。当前，单一的平台往往难以应对所有的测试情况，因此安捷伦突破传统仪器的局限，不断推出各种先进的模块化产品，为客户构建测试平台提供多样化的选择。在本次大会上， 安捷伦模块化产品运营部总经理Larry Desjardin先生重点介绍了AXIe技术。AXIe总线兼容PXI总线仪器，AXIe总线仪器体积更大、功率更高，可以承载需要大功率的模块化仪器。U4154A是目前市场上速率最高的逻辑分析仪，它具有4G bps状态速率、5G bps定时速率、最小眼张开度100mv x 100ps的超高指标，是目前唯一可以测量全部DDR速率的逻辑分析仪。M8190A超宽带任意波形发生器有两种工作模式，分辨率14 bit 时，采样率为8 GSa/s；分辨率12 bit时，采样率为12GSa/s。无杂散动态范围（SFDR）可达80 dBc，每通道内存2 G采样。用户在生成超宽带信号时再也无需担心动态范围不够。

PXT是 LTE 终端测试领域的一项重大突破，它提供灵活的基站/网络仿真和射频参数测试功能，是安捷伦针对 LTE 开发和验证的测试产品系列中又一出色的测试解决方案。安捷伦微波通信工厂移动宽带运营部亚太区市场开发经理YIP Yau Mun先生在大会上为我们展示了PXT 包括用于测量、校准和验证的全套 LTE 射频测量功能。PXT LTE 测试仪支持真实的基站/网络仿真，提供一个可配置的测量环境，可验证网络附着、空闲和连接模式下的操作及功能性能(例如吞吐量)。PXT 具有最大的灵活性，可配置各种连接和网络参数，进行测量和调试所设计的协议和数据处理能力，包括下行 2x2 MIMO 和切换。可选的应用软件支持更详细的协议和应用测试及分析。PXT 仪器还可用于安捷伦的设计验证和一致性测试解决方案，覆盖整个 LTE 研发周期。

随着HDMI1.4，USB3.0,Display Port等各种高速数据线缆的广泛使用，高速数据线缆的测试成为线缆厂商的一大挑战，诸如反射和损耗的问题会造成数字信号失真，导致出现误码。另外由于保证器件正确工作的可接受时间裕量不断减少，信号路径上的时序偏差问题变得非常重要。杂散电容所产生的辐射电磁波和耦合会导致串扰，使器件工作出现错误。随着电路越来越小、越来越紧密，这一问题也就越来越明显。更糟糕的是，电源电压的降低将会导致信噪比降低，使器件的工作更容易受到噪声的影响。安捷伦网络分析仪E5071C选件为此提供完整解决方案。安捷伦签约系统集成商——Ghiatek，基于E5071C选件TDR，再加上自制夹具和软硬件系统集成，可以为线缆厂商提供系统解决方案。