惠瑞捷 V93000 获ISE Labs硅谷及德州奥斯汀厂采用

21ic讯 2012 年3 月27 日加州库比蒂诺报导－ 半导体测试设备供应商惠瑞捷 (Verigy) （Advantest Group 爱德万集团（东京证交所：6857，纽约证交所：ATE）子公司）今天宣布ISE Labs 在加州费利蒙、德州奥斯汀的测试封装厂引进V93000 Smart Scale™ 数位量测模组以及Pin Scale测试机种之测试设备，进一步扩展双方对于测试开发服务的合作关系。

双方长远结盟关系的最新计画即为ISE Labs 奥斯汀厂将开始采用惠瑞捷的Pin Scale 技术开发先进的测试方法，针对最新一代低功耗安谋（ARM）架构伺服器处理器，搭配高速DDR3记忆模组、PCI Express 介面、消费性IC 如智慧媒体芯片内建系统(SOC) 设备，应用于下一代的媒体闸道器与机上盒。为达成上述目标， ISE Labs 奥斯汀厂安装L 级测试头的V93000 Pin Scale 测试机台，在惠瑞捷的Pin Scale 400 以及800 数位量测模组下，具备超过900 个数位信号脚位供测试。

此外，硅谷最大的半导体测试实验室— ISE Labs 费利蒙厂，亦引进了两​台配备Pin Scale 1600数位量测模组的V93000 Smart Scale 测试机，用以测试客户量产的IC。其中一套系统使用Pin Scale 1600 以及9G 数位量测模组，有超过1, 000 个脚位的C 级测试头；另一个系统则配备惠瑞捷最小的A 级测试头，配有512 个数位量测脚位以及MB-AV8 PLUS 类比信号量测模组。两套系统均可扩充升级，提供增加数位量测脚数，或新增测量资源，如惠瑞捷的Port Scale 射频解决方案。 ISE Labs 所采用的惠瑞捷Smart Scale 技术，是硅谷测试服务供应商中的首创之举。

ISE Labs工程与测试服务副总裁Rabbi-ul Islam 表示：「我们对于与惠瑞捷的长期合作关系，一直感到相当满意，也很高兴能够在奥斯汀技术中心开始实施其经认证的Pin Scale 技术。

惠瑞捷北美销售暨支援部门副总裁Sanjeev Mohan 强调：「能获得ISE Labs 青睐，将新一代Smart Scale 系统运用于技术开发以及商业测试服务，对我们来说是一件令人振奋的消息。V93000 per-pin的弹性建置让我们在各项测试应用都能达到业界领先的水准。

惠瑞捷的可扩展Smart Scale 测试系统以及数位信号量测模组，展现最​​具经济效益的先​​进半导体设计测试，包括28nm 技术节点及以下的3D 堆叠与IC设计。

Pin Scale 1600 数位量测模组在测试灵活性方面开拓一个崭新领域。此模组的万用per-pin 架构，让每个通道在测试下都能够发挥各种装置所需的功能，带来最大的灵活性。 Per-pin功能包括独立时脉网域、高精准度的直流电与业界领先的数位效能，都可以透过Pin Scale 1600 进行强化。

惠瑞捷的Pin Scale 9G 针脚量测模组是唯一完全整合、高速、数位化且能够涵盖自直流到超过每秒8Gb，符合成本的高速测试制具。高度多样化的Pin Scale 9G 针脚量测模组可测试包括平行或序列式、单点或多点、单向或双向的介面。