频谱分析仪如何测量相位噪声?频谱分析仪大显身手!

一直以来，频谱分析仪都是大家的关注焦点之一。因此针对大家的兴趣点所在，小编将为大家带来频谱分析仪的相关介绍，详细内容请看下文。

一、频谱分析仪大显身手

1.EMI场地勘测

便携式的频谱分析仪与宽带天线的组合在探测电磁干扰过程中特别有用。在1KHz～1GHz之间的辐射电磁干扰探测仅用一台频谱仪和一根天线就可完成。不同地理位置环境干扰的勘测有助于确定最佳的EMI开阔测试场地。勘测的信息也可用于确定安置EMI敏感校验或设计组的最佳位置。多数情况下，来自建筑物外最小的环境电磁干扰区域趋于建筑物的中央。对于多层建筑物，地下室或较低楼层通常具有最小的环境电磁干扰。

有时，甚至在EMI敏感设备放置一段时间后会突然发生电磁干扰问题，频谱分析仪则是标出问题缘由的重要诊断工具。天线用于决定发射源的方向并标出最大干扰的区域。RF电流间断电源(UPS)产生的干扰，通过频谱分析仪与宽带天线跟踪追查某宽带电磁干扰到一间装有UPS的房间，用RF电流探头探出干扰源是蓄电池线缆。

2.屏蔽效能测试

频谱分析仪能用来测试材料、设备屏蔽箱体、甚至较大屏蔽测试室的屏蔽效能。材料样品可以通过横电磁波(TEM波)室、频谱分析仪和跟踪发生器测试，测试装置与滤波器衰减测试很相似，只是用TEM波室代替了滤波器。材料样本放在TEM室里测试其频率变化的衰减特性或屏蔽效能。

另一种用频谱分析仪测试材料的方法是将材料样本蒙在测试盒的开口上。这里，跟踪发生器与一小发射天线相连并放在测试盒的内部。接收天线放在测试盒的外面并与频谱仪相连。用材料样本覆盖的测量值之差就是屏蔽效能值。

二、频谱分析仪实现相位噪声测量

FSUP Signal Source Analyzer信号源分析仪(见图)建立于该公司非常成功的FSU频谱分析仪平台，包括了额外的相位噪声测量能力。它有两种不同的工作模式：作为一台频谱分析仪或作为一台信号源分析仪。在后一种模式下，它提供带有频谱分析仪的相位噪声测量，带有相位比较仪的相位噪声测量，以及带有相位比较仪和交叉关联的相位噪声测量。FSUP可以使用其内部参考振荡器或用户提供的外部参考源。该仪器是一种强大振荡器测试工具，对于可调振荡器具有宽广的测量范围，包括对压控振荡器(VCO)调节特性、VCO DC特性、VCO RF特性、调谐灵敏度、VCP偏压，以及谐波功率的测试。

各种测量提供了无与伦比的性能和准确性，如其动态范围如下：显示平均噪声水平(DANL)为-160dBm、三阶交调截取点为+25 dBm。为可靠地测量高频振荡器的相位噪声，FSUP分析仪中包括一个低噪声内部参考源，它能够提供1-GHz载波频率偏移10 kHz处-134 dBc/Hz的相位噪声，或同样载波频率偏移10 MHz处-170dBc/Hz的相位噪声。杂散电平为-80 dBc/8GHz、-68 dBc/26.5GHz，以及-62 dBc/50GHz。可选择的型号FSUP-B60为FSUP分析仪提供了两条平行接收路径，以通过两路径之间的交叉关联进行相位噪声测量。这样就消除了内部参考源固有的噪声，并使动态范围改善高达20 dB。

FSUP Signal Source Analyzer信号源分析仪具有解析频宽(RBW)滤波器功能，在10 Hz ~20 MHz具有3dB带宽，以及50-MHz宽带滤波器。这些分析仪还包括在200 Hz、9 kHz和120 kHz具有6dB带宽的电磁噪声干扰(EMI)滤波器，以及在1 Hz ~30 kHz具有3dB带宽的快速傅利叶变换 (FFT)数字过滤器。视频(3dB)带宽滤波器在1 Hz ~10 MHz范围。在两种测量模式下的频率解析度均为0.01 Hz。FSUP分析仪可显示DANL至+30dBm的振幅水平。

测试结果显示于具有800 x 600像素SVGA分辨率的8.4英寸(21 cm) LCD TFT显示屏。可选择功能包括：0~30dB电子衰减，20dB增益前置放大器，和用于可以将测量能力扩展到110GHz的外部混频器的端口。FSUP分析仪包括 Ethernet (RJ45)、通用串行总线(USB)、RS-232C串口以及GPIB接口。

以上就是小编这次想要和大家分享的有关频谱分析仪的内容，希望大家对本次分享的内容已经具有一定的了解。如果您想要看不同类别的文章，可以在网页顶部选择相应的频道哦。