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[导读]集成电路构成持续发展。集成电路(Integrated Circuit,IC)是采用特定的加工工艺,按照一定的电路互联,把一个电路中所需的晶体管、电容、电阻等有源无源器件,集成在一小块半导体晶片上并装在一个管壳内,成为能执行特定电路或系统功能的微型结构。集成电路由最初的电子管到后期的晶体管,集成电路里的电子元件向着微小型化发展,同时元器件也在成倍增长。现在的电子产品往往由于一块集成电路损坏,导致一部分或几个部分不能常工作,影响设备的正常使用。那么如何检测集成电路的好坏呢?

集成电路构成持续发展。集成电路(Integrated Circuit,IC)是采用特定的加工工艺,按照一定的电路互联,把一个电路中所需的晶体管、电容、电阻等有源无源器件,集成在一小块半导体晶片上并装在一个管壳内,成为能执行特定电路或系统功能的微型结构。集成电路由最初的电子管到后期的晶体管,集成电路里的电子元件向着微小型化发展,同时元器件也在成倍增长。现在的电子产品往往由于一块集成电路损坏,导致一部分或几个部分不能常工作,影响设备的正常使用。那么如何检测集成电路的好坏呢?

(l)非在路测量法。非在路测量法是在集成电路未焊入电路时,通过测量其各引脚之间的直流电阻值与已知正常同型号集成电路各引脚之间的直流电阻值进行对比,以确定其是否正常。

(2)在路测量法。在路测量法是利用电压测量法、电阻测量法及电流测量法等,通过在电路上测量集成电路的各引脚电压值、电阻值和电流值是否正常,来判断该集成电路是否损坏。

(3)电压检测法就是通过检测集成电路的引脚电压值后与有关参考值进行比较,从而得出集成电路是否有故障以及故障原因。电压检测法有两种数据,即参考数据和检测数据。电阻检测法就是通过测量集成电路各引脚对地正反直流电阻值和正常参考数值比较,以此来判断集成电路好坏的一种方法。此方法外为在线电阻检测法和非在线电阻检测法。电压检测法就是通过检测集成电路的引脚电压值后与有关参考值进行比较,从而得出集成电路是否有故障以及故障原因。电压检测法有两种数据,即参考数据和检测数据。电阻检测法就是通过测量集成电路各引脚对地正反直流电阻值和正常参考数值比较,以此来判断集成电路好坏的一种方法。此方法外为在线电阻检测法和非在线电阻检测法。

(4)总电流测量法该法是通过检测集成电路电源进线的总电流,来判断集成电路好坏的一种方法。由于被测集成电路内部绝大多数为直接耦合,所以当被测集成电路损坏时(如某一个PN结击穿或开路),会引起后级饱和与截止,使总电流发生变化。所以通过测量总电流的方法可以判断集成电路的好坏。也可测量电源通路中电阻的电压降,用欧姆定律计算出总电流。

(5)对地交、直流电压测量法这是一种在通电情况下,用万用表直流电压挡对直流供电电压、外围元件的工作电压进行测量,检测集成电路各引脚对地直流电压值,并与正常值相比较,进而压缩故障范围,找出损坏元件的测量方法。对于输出交流信号的输出端,此时不能用直流电压法来判断,要用交流电压法来判断。检测交流电压时要把万用表置于“交流挡”,然后检测该脚对电路“地”的交流电压。如果电压异常,则可断开引脚连线,测量接线端电压,以判断电压变化是由外围元件引起的,还是由集成电路引起的。

对集成电路电源电压的数值减少,就是降压法。集成电路一般工作于低电压下,如果采用了低劣集成电路或其他原因引起集成电路工作电压过高以及引起集成电路自激,为了消除故障可以采用降压法。降压法一般是采用电源端串接电阻法、电源端串联二极管法,以及提高电源电压法。提高电源电压在实际检修过程中较少采用,原因是这种方法无论是外接电源还是改变集成电路电源线的引进路路径,都比较费工费时,但不管是升压法还是降压法电压都要在极限电压以内。

根据集成电路实际检修经验,在路检测集成电路内部直流等效电阻时可不必把集成块从电路上焊下来,只需将电压或在路电阻异常的脚与电路断开,同时将接地脚也与电路板断开,其它脚维持原状,测量出测试脚与接地脚之间的R内正反向电阻值便可判断其好坏。但需要注意,尽量使用安全、简单、易行、经济、可靠、快速的方法以及这些方法的组合。在检测时要认真分析,灵活运用各种方法,摸索规律,做到快速、准确找出问题所在。

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