如何破坏电容测量

考虑使用LCR表或良好的万用表进行电容测试的任务,例如福禄克287真实rms万用表。如果测试中的电容器是电解或基于电影的装置,主要的测量问题通常只是确保电容器不断电或没有存储电荷--尤其是电解剂可以在长时间后在高压下存储和释放大量的电流。因此,一个主要的测量任务是首先确保任何危险的储存电压是流血,以避免严重的冲击。这样做,你应该能够附加一个万用表或LCR表,并得到一个电容测量。

福禄克287万用表:最好检查电压如果测量一个多功能CC。然而,对于某些多层陶瓷电容器(MLCS)来说,这项测量任务并不那么简单。原因在于Lcrs和万用表测量的方法。这些仪器的电容测量通常涉及用已知电流充电,然后测量电压。这里的问题是:在特定施加直流电压的情况下,mccc制造商指定设备电容。事实上,一些多功能电抗器器件显示的电容随直流电压的变化而变化.因此,如果在测量过程中,mmcc最终体验到的电压不同于制造商指定电容水平时使用的电压,则mmcc看起来似乎是不符合规格的。

这种效应称为电容电压系数或VCC。它出现在第二类和第三类的MLCCS中。(第二类和第三类名称表示具有较高介电率的电容电,使这些器件具有较高的电容。当施加直流电压上升时,这些器件的电容下降。这个电容

这是一个来自三星的多功能计算机的切线视图。无论是谁制造的多功能协调器都会发生滴滴,这是设计和材料特性的一个功能。第二级Mlcc由巴蒂奥制造 3 铁电材料。当直流电压施加到器件上时,一个电场会影响钛离子,从而将它们锁定在铁电材料的晶格结构中。这种作用可以防止电容器材料受到施加的交流电压的影响,从而降低材料的介电常数,从而造成可测量的多管电容下降。

顶部,电容变化比。直流偏置对一个凯梅特XTR2127G50V多功能协调器。下面是电容变化。相同设备的交流偏差。进一步复杂化的是,并非所有第二类和第三类Mlcc都显示出与直流电压相同的电容损耗水平。正如多金属管公司制造商凯梅特所指出的,在额定电压下,一些MLCS可能会损失10%的电容,而在额定电压下,其他具有相同外壳尺寸的MLCS可能会损失70%的电容。原因之一:较高的电压会导致每个有源层产生较高的电场,使钛离子难以定位。此外,电容器中的铁电材料由于各种性能原因可以包括掺杂剂,从而使VCC明显恶化。此外,不同的MLCS使用的陶瓷电,其厚度可以从10欧氏到1欧氏。层越薄,电场作用越高,VCC效应越明显。

因此,VCC在超级小的MLCCS中可能特别尖锐,因为它们必然具有较薄的介质层。还有一点需要注意的是,交流电压也会导致在多功能介质中产生电场。每个层上的电场大小与跨多管通信中心的交流电压峰值成正比。因此电容可以随所施加的交流电压和所施加的直流电压而变化.因此,为了精确测量电容,电表的交流电压应与MCC数据表中规定的电压相同。

最后,如果电容对电压的敏感性是一个问题,请考虑到一个第一类MCC。这些装置有一个基于卡兹罗的介质 3 是一种超电势材料。这些电容器提供最小变化或随温度和电压漂移的电容。介电介电材料具有相对较低的介电率,因此其电容值一般在较低的皮法拉德至微法拉德范围内。