吉时利针对高速晶圆生产测试推出半导体测试软体升级版

台北讯 – 2011年9月23日 – 先进电子量测方案的世界级领导厂商吉时利仪器公司推出获得业界好评的吉时利测试环境（KTE）半导体测试软体的升级版。KTE V5.3是专为配合吉时利最快、最经济有效的程式控制监控方案产品线S530参数测试系统使用所设计。有关KTE V5.3的详细资讯，请浏览：http://www.keithley.com/data?asset=55833。

KTE是一款强大的测试开发和执行软体平台，全球有数百家半导体晶圆厂皆使用吉时利前几代的参数测试系统。现在，吉时利的S530测试系统利用这个经过业界长期验证的软体平台在最严苛的生产环境中实现了灵活的测试计划开发和高速测试。现有的吉时利S400和S600系列参数测试仪用户将能受益于S530系统上的KTE V5.3，因为他们可以将现有的测量程式轻松转移到S530，而且现有测试仪和新的S530系统可以共用同一个测试计划。

结合了30年的参数测试代码开发实务经验和市场上最快、最先进的系统硬体优势，吉时利进一步将KTE测试开发和执行环境扩展至S530系统。S530仪器提供程式控制监控等参数测试应用要求的高速和广泛测量范围。



吉时利致力于让新测试系统高度相容于较早的系统，以支援吉时利参数测试客户。保持软体相容性的承诺，使转移路径更为平顺，并能在为测试平台加入更新、更高速测试仪的同时，保护晶圆厂的测试软体投资。

对于吉时利参数测试的新客户而言，遵守系统软体连续性的承诺会让客户对经过业界长期验证软体基础的测试系统充满信心。

对于已经使用KTE较早版本的客户来说，KTE V5.3加速并简化了S530测试系统到测试平台的整合。

· 同一种测试方法和测试方案适用于所有吉时利自动参数测试系统，这不仅缩短了使用多个系统的测试工程师和操作人员的学习过程，而且在测试平台上增加新的高速系统，或取代较早期平台时提供平稳的转换路径，进而保护晶圆厂的测试开发投入。

· 使用者只需重新编译和重新建立多年来为更早吉时利系统开发的用户资料库，只需进行少量的除错下，就能继续在S530上使用这些资料库。

· KTE V5.3简化了建立条件测试顺序的新用户撷取点（user access point；UAP）原始码以及制订S530的系统工作流程。为早期吉时利系统开发的UAP原始码在少量的调整下，适用于S530系统。

· KTE的工具对吉时利所有参数测试平台都提供完全相同的功能。

S530的KTE适和在标准工业PC的Linux作业系统上运作，可保持长期的稳定性也易于维护。这项软体已针对高速生产测试环境优化了速度，也提升了可靠性。运作KTE V5.3的S530系统能实现程式控制监控、过程可靠监控和元件特性分析要求的全部直流I-V和C-V测量。S530系统特别针对某些生产参数测试环境进行优化，包括必须配合广泛产品组合的环境，必须维持广泛应用灵活性的环境，或快速测试方案开发。