<市场>电源光学晶圆测试一把抓 PXI模组百变现身

美商国家仪器（NI）第八届大中华PXI技术与应用论坛5月18日于台北六福皇宫盛大登场。来自不同产业界的代表厂商，在现场人潮汹涌的实际应用展示区内，百花齐放地呈现了以PXI模组化仪控设备和LabVIEW软体为核心、有效提升自动化测试效能的最新成果。从电源供应、光学镜头到LED晶圆生产设备，NI的PXI模组化软硬体平台扮演着举足轻重的关键角色。

图一NI PXI论坛现场人潮络绎不绝

在电源元件自动化测试部份，固纬电子示波器研发事业处专案襄理曾元佑表示，以往单一PXI仪控设备所能够消耗的功率限制在25W之内，若待测物需要用到大瓦特数时，便必须搭配一般传统的量测仪器，因此设计弹性就受到限制。固纬电子便藉由NI软体定义的PXI模组化平台价值为核心，扩充测试大瓦特数电源转换器待测物的能力。为突破以往中低阶量测仪器供应商的市场定位，固纬电子以上述概念作为出发点，与NI合作设计出开放式模组化电源测试系统，强化了工业和消费电子应用电源转换器的测试能力。

这款模组化电源测试系统中，NI主要提供操作介面、示波器和电表卡板、以及耐高压转换汇流排，其余则是由固纬电子所衍生开发。为了降低客户使用的门槛，在预设版本内就先删除PXI控制器简化功能的角色。至于软体部份则是采用NI的测试管理套件TestStand，以此为基础开发出其他LabVIEW测项功能，大部分软体平台也是由NI所提供。藉此固纬电子设计出一套可支援工业用电脑和消费电子产品等电源自动化测试、并能提供相关服务的原型平台。

图二固纬电子示波器研发事业处专案襄理曾元佑

另一方面，在光学透镜检测部份，国家实验研究院仪器科技研究中心先进电子系统制作厂助理研究员陈永祥指出，消费电子产品搭配的光学镜头，需要经过严谨的偏心检测作业。藉由PXI模组平台的辅助，影像式光学透镜模组的偏心检测机台，光轴中心和几何中心两点运算的偏心量就能更为精确地检测出来，且能进一步提高周边扩充功能和运算速度，比起传统机械式绕圆的检测方式，更能提高效率和精确度，从2～3分钟大幅缩减数秒即可。

图三右为国家实验研究院仪器科技；左为研究中心先进电子系统制作厂助理研究员陈永祥

此外在LED晶圆测试领域，PXI模组化平台更扮演不可或缺的角色。亚克先进系统部经理林世芳和顺英有限公司萧顺中表示，现场展示的6寸LED晶圆测试设备，整合顺英的电光测试机以及亚克先进的移动控制机台，测试机除采用NI PXI SMU模组之外，整座机台亦涵盖NI在电性、马达、影像视觉、I/O介面、LabVIEW等软硬体功能，可支援高速、低杂讯、稳定而精确的量测品质。6寸LED晶圆测试设备可同时进行垂直4点LED探针测试，并可兼顾波长检测项目，不仅能大幅提高检测产能，更可大幅降低无尘室生产线的建置成本，是台湾自主开发的LED软硬体检测平台。

图四右为亚克先进系统部经理林世芳；左为顺英有限公司萧顺中