STARC与Atrenta就EDA工具质量管理体系展开合作
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日本半导体技术学术研究中心（简称“STARC”）与Atrenta Inc.宣布，双方合作开发一种电子设计自动化(EDA)工具质量管理体系。该系统基于STARC提供的质量评价数据库，并且拓展了对Atrenta的SpyGlass寄存器传输级(RTL)平台正在进行的质量监测。
作为此次合作的一部分，STARC为Atrenta提供了回归测试规格和大量的设计测试案例。Atrenta随后将这些测试整合进他们的SpyGlass平台回归测试套件，从而可实现对各版本SpyGlass平台的质量和生产准备就绪的详细测试。Atrenta会为STARC提供一份质量评价报告，其中包括回归测试结果、发现的漏洞的类型以及在目标版本之前实施的决议。
STARC副总裁兼总经理Nobuyuki Nishiguchi表示：“在过去一年半的时间里，我们一直与Atrenta合作实施这项计划。SpyGlass系列的产品质量使得我们能够取得显著进步。通过此次合作，STARC能够更轻松地为我们的企业客户提供领先的前端设计方法。我们的企业客户如今能够非常有效地部署新版SpyGlass。”
Atrenta营销部副总裁Mike Gianfagna说：“质量数据库是实施改良质量程序的一种有效方法，因为它获得了STARC所有客户的授权，并且基于现实设计问题而开发。通过客户测试案例获取计划，我们不断改进我们的软件回归套件，而此次与STARC的合作是一次重要的补充。通过此次合作，我们可以加快向推进Early Design Closure® 的STARC客户推出优质产品。”
Atrenta与STARC打算将该计划拓展至其它产品系列，以推动产品质量的持续改善，并为STARC成员企业降低采用和部署成本。
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关键字： DMA MANAGEMENT 高通 ST
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