安捷伦M8000系列 模块化设计灵活应对新趋势

不知何时，我们已经习惯了显卡的PCI ExPress(以下简称PCI-E)接口，曾经流行的AGP接口已经完全被主流市场淘汰。而PCI-E接口同样“与时俱进”，不久之前我们还在谈PCIe3.0，现在开始越来越多的涉足PCIe第四代。再看USB， USB3.0包括存储或者接口才刚普及没有太长时间，现在速率高达10Gb/s的USB3.1已经开始慢慢进入人们的视线。随着市场发展和产品更新换代，很多高速数据总线都迎来了下一代的标准，或者说第四代标准。

市场发展另外一个显而易见的趋势，正如大家感受到的，像手机、平板电脑等移动设备占据我们的时间慢慢变得比电脑等桌面设备长了。随着手机功能越来越强大，桌面计算越来越多的转向移动计算，互联网、移动互联网流量的发展越来越快速，渐渐超过了桌面的流量。

此外，越来越多的数据中心在全球各地建立，越来越多的云计算、移动互联网和各种各样的需求都驱动了数据中心的发展。

随着这些新趋势的发展，各种问题和挑战也迎面而来。比如移动计算、数据中心的发展，怎么样在提高计算能力的同时能够降低能耗、应对降低能耗的需求。另外，多通道传输的引入使得传输速率越来越快，但是多路信号之间必然要考虑串扰，这是在传统的网络和设计当中没有碰到的，现在要开始考虑多个信号之间的串扰。此外为了更进一步地提供更高的通信效率，还要考虑新的调制格式等。

应对这些新的趋势和挑战，研发和测试工程师们也开始了新的需求。首先是怎么样能够降低测试时间。因为尽快的把产品推向市场是一个公司成功的因素之一，而降低测试时间是关键。其次，新的标准、新的制式出现的频率越来越快，所以在采购新测试工具的时候，都希望对于未来投资能有保护，对于未来的标准发展预留一定的发展空间。此外，对于许多全球化公司来讲怎么样确保在不同的地方进行的测试得到同样的结果也是工程师们的一大难题。

综上，测试仪器的选择就成了至关重要的一环。而测试测量设备商们也各尽其能，帮助工程师解决测试难题。

日前，安捷伦推出了新型 M8000 系列比特误码率测试解决方案，这是一种高度集成、可扩展的比特误码率测试解决方案，可对高速数字设计所用的接收机执行物理层表征、验证和一致性测试。

M8000系列比特误码率测试解决方案支持广泛的数据速率和标准，提供精确可靠的测试结果，可加速对用于计算机、消费电子、服务器、移动计算以及数据中心产品的高速数字设备进行性能裕量分析。

安捷伦电子测量事业部数字与光测试分部全球市场总监Joachim表示：“全新M8000系列比特误码率测试解决方案将帮助研发和测试工程师积极应对下一代接收机测试挑战。凭借独到的集成和可扩展性，M8000系列允许工程师加快对高速数字设计所采用的接收机进行精确表征。”

Joachim还向记者介绍到，M8000系列的误码仪应对了客户的新挑战，比如速率越来越高、通道速率越来越多、测试越来越复杂，还有预加重等测试需求。首先，M8000系列通过高度集成化的设计简化了测试配置;第二，提供高效、互动的Link training来更快让被测件进入环回模式;第三，提供去嵌入的校准能力，使得测试点尽可能贴近芯片;最后提供模块化、可扩展的配置理念。所以为研发和测试工程师带来很多的方便，如说更快的加速测试、加速产品上市时间，提供精准、可重复的测试结果。包括可以在保护用户投资方面，为用户应对于以后新的标准预留了更多的发展空间。