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[导读]近年来,使用“功率元器件”或“功率半导体”等说法,以大功率低损耗为目的二极管和晶体管等分立(分立半导体)元器件备受瞩目。这是因为,为了应对全球共通的 “节能化”和“小型化”课题,需要高效率高性能的功率元器件。 然而,最近经常听到的“功率元器件”,具体来说是基于什么定义来分类的呢?恐怕是没有一个明确的分类的,但是,可按以高电压大功率的AC/DC转换和功率转换为目的的二极管和MOSFET,以及作为电源输出段的功率模块等来分类等等。


什么是碳化硅SiC

近年来,使用“功率元器件”或“功率半导体”等说法,以大功率低损耗为目的二极管和晶体管等分立(分立半导体)元器件备受瞩目。这是因为,为了应对全球共通的 “节能化”和“小型化”课题,需要高效率高性能的功率元器件。
然而,最近经常听到的“功率元器件”,具体来说是基于什么定义来分类的呢?恐怕是没有一个明确的分类的,但是,可按以高电压大功率的AC/DC转换和功率转换为目的的二极管和MOSFET,以及作为电源输出段的功率模块等来分类等等。


SiC(碳化硅)是一种由硅(Si)和碳(C)构成的化合物半导体材料。表 1-1 列出了各种半导体材料的电气特征,SiC 的优点不 仅在于其绝缘击穿场强(Breakdown Field)是 Si 10 倍,带隙(Energy Gap)是 Si 3 倍,而且在器件制造时可以在较宽的范 围内实现必要的 P 型、N 型控制,所以被认为是一种超越 Si 极限的用于制造功率器件的材料。SiC 存在各种多型体(结晶多系), 它们的物性值也各不相同。最适合于制造功率器件的是 4H-SiC,现在 4inch6inch 的单晶晶圆已经实现了量产。

为什么要发展碳化硅?

第一代元素半导体材料:如硅(Si)和锗(Ge);

第二代化合物半导体材料:如砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)等;

第三代宽禁带材料:如碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)、氮化铝(ALN)、氧化镓(Ga2O3)等。

 

第三代半导体材料又称宽禁带半导体材料和传统硅材料的主要区别在禁带宽度上具体来说禁带宽度是判断一种半导体材料击穿电压高低的重要标志禁带宽度值越大,则这种材料做成器件耐高压的能力越强除了更耐高压碳化硅基功率器件在开关频率散热能力和损耗 等指标上也远远好于硅基器件。此外碳化硅材料能够把器件体积做的越来越小能量密度越来越大这也是全球主要的半导体巨头都在不断研发碳化硅器件的重要原因

弯道超车已有先例在传统 IGBT 领域,英飞凌占据了绝对优势但由于英飞凌未向上游布局碳化硅衬底生产环节布局其碳化硅 MOSFET 开发进度明显落后于科锐、罗姆公司在碳化硅器件需求大增背景下科锐弯道超车成了碳化硅功率器件第一且碳化硅器件有取代IGBT的趋势,有些专家纪要提出新能源汽车高续航需800V必须用碳化硅,充电效率可翻倍,目前400V还可用IGBT。国内企业也是抓紧了布局碳化硅衬底,上市公司已计划真金白银砸了数百亿


碳化硅的特性

SiC 的绝缘击穿场强是 Si 的 10 倍,因此与 Si 器件相比,能够以更高的掺杂浓度并且膜厚更薄的漂移层制作出 600V~数千 V 的

高压功率器件。高压功率器件的电阻成分主要由该漂移层的电阻所组成,因此使用 SiC 材料可以实现单位面积导通电阻非常低的

高压器件。理论上当耐压相等时,SiC 在单位面积下的漂移层电阻可以降低到 Si 的 1/300。对于 Si 材料来说,为了改善由于器件

高压化所带来的导通电阻增大的问题,主要使用例如 IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor:绝缘栅极双极型晶体管)等少数载

流子器件(双极型器件),但是却存在开关损耗较大的问题,其结果是所产生的发热问题限制了 IGBT 的高频驱动应用。SiC 材料

能够以具有快速器件结构特征的多数载流子器件(肖特基势垒二极管和 MOSFET)实现高压化,因此可以同时实现“高耐压”、

“低导通电阻”、“高频”这三个特性。

另外,SiC 的带隙较宽、大约是 Si 的 3 倍,因此能够实现在高温条件下也可以稳定工作的功率器件(目前由于受到封装的耐热

可靠性的制约,只保证到 150℃~175℃,但是随着封装技术的发展,将来也可能达到 200℃以上的保证温度)。






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