2011安捷伦测试测量大会深圳站：众多新产品亮相

安捷伦科技公司日前宣布2011 年安捷伦测试测量大会亚洲巡展之旅在继西安、上海、北京站的成功举办后，于9月8日在深圳成功落下帷幕。安捷伦作为业界领军企业，将不断引领先进科技，为广大客户呈现最前沿最全面的技术解决方案。

本次大会的主题是——“绽放电子测量的魅力” 。大会所涉及的产品及解决方案从智能手机，到平板电脑；从移动通信测试大全，到元器件与材料测试的深入解析；从毫米波应用的尖端测试设备，到灵活配置的新型模块化方案；从真实硬件模拟带宽高达32GHz的高性能实时示波器、DANL可逼近到-172dBm理论极限值的高端频谱分析仪，再到基于PNA-X的非线性网络测试划时代的创新产品；从宽带复杂信号产生与分析，到高速数字总线的测试方案……为所有与会者提供了一个饱览安捷伦科技解决方案与最新产品的绝佳机会。安捷伦科技还力邀业界权威讲师与安捷伦科技全球范围各应用领域内的资深技术专家、经验丰富工程师共同现场讲解与演示，全方位的展现了电子测试测量的魅力。

另外在此次大会上，安捷伦还发布了PXI嵌入式控制器，高达100MHz带宽的高速数据流盘解决方案、PXT LTE无线终端测试仪和矢量网络分析仪ENA增强型时域分析软件TDR的新功能。
为了满足不同的测试需求，安捷伦在提供传统仪器的同时推出了各种模块化产品。此次新产品的发布进一步丰富了模块化产品系列（ PXI 和AXI-e），并为客户搭建新一代测试平台和解决方案提供更多的选择。

目前安捷伦模块化产品已涵盖机箱，嵌入式控制器，高速DMM, 系列开关,高速数采和数字I/O等模块，以及业界首款超宽带微波矢量分析仪（250MHz分析带宽，或自行搭建1.5GHz带宽的分析系统），宽带放大器数字预失真（DPD）和高速数据流盘解决方案。

PXT是安捷伦 LTE 终端测试领域的一项重大突破。它提供灵活的基站/网络仿真和射频参数测试功能，是安捷伦针对 LTE 开发和验证的测试产品系列中又一出色的测试解决方案。PXT支持过往所有 3GPP LTE 版本的技术规范，具备用于测量、校准和验证的全套 LTE 射频测量功能。PXT 具有最大的灵活性，可配置各种连接和网络参数，进行测量和调试所设计的协议和数据处理能力，包括下行 2x2 MIMO 和切换。通过 LTE 消息编辑器应用软件, PXT还可灵活地配置详细的信令控制参数。可选的应用软件支持更详细的协议和应用测试及分析。

基于网络分析仪ENA的TDR选件是安捷伦在元器件测量领域又一重大突破。秉承VNA 体系结构的全部技术优势，安捷伦E5071C 选件TDR 能够以最高精度快速完成实时TDR 测量。它具有高达3000 V (典型值) 的ESD 容限电压和丝毫无损的射频测量性能，因此可以确保产品更加可靠，降低维护费用。新推出的“先进波形分析”功能可以在线缆和连接器测试过程中，例如HDMI 线缆一致性测试，提供真实环境模拟，在测量眼图时提供抖动注入；同时在被测件信号输入端进行幅度加强，输出端进行信号均衡，以增强眼图的开合度。“HOT TDR”功能在进行T/R测试过程中，例如在SATA认证测试中测试Tx/Rx器件的回波损耗时，自动的屏蔽不合适的信号测量点，以阻止信号多次反射引起的眼图闭合，即发射信号多次反射导致的测量误差。更重要的是，这两个新的功能是ENA TDR选件上完全免费的升级，极大的降低了利用传统示波器进行同样TDR测试的成本。

除此之外，大会现场的产品展示环节（Live Demo Fair），更为与会者提供与研发支持专家更直接、近距离交流与讨论的机会，亲自体验先进解决方案带来的快捷与便利。

2011安捷伦测试测量大会深圳站现场图片


13个内容丰富的产品演示展台


安捷伦资深技术专家向参会者介绍最新解决方案