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文章数973
  • 利用高性能监控电路提高工业功能安全合规性:安全关键特性——第3部分

    在设计安全相关系统(SRS)时使用符合功能安全(FS)的组件能够带来诸多优势,但大多数设计仍然依赖于标准IC,即未按照FS标准开发的IC。从系统级角度来看,通过使用标准部件进行功能安全设计,设计人员便能够始终实现合规性,尤其是目前仅有少数IC达到FS等级。为此,本系列的第3部分将深入探讨在选择监控电路时,值得关注的FS关键特性,以帮助设计人员在众多标准解决方案中做出更明智的选择。

  • 利用高性能监控电路提高工业功能安全合规性:使用SIL级器件——第2部分

    在识别电子、电气和可编程电子安全相关系统(SRS)中的危险故障方面,电源监视器等诊断功能发挥着至关重要的作用。尽管根据IEC 61508标准的当前修订版本,此类器件不一定要达到功能安全等级,但在设计SRS时使用符合功能安全的器件可带来诸多优势。因此,本系列的第二部分将讨论在设计涉及工业功能安全的系统时,使用SIL级电源监视器的六大好处。

  • 利用高性能电压监控器提高工业功能安全合规性—第1部分

    高性能电压监控器具有集成的安全功能,可提高系统性能,以满足IEC 61508功能安全标准关于定量可靠性、架构约束和系统安全完整性的要求,从而帮助系统符合该标准。

  • 既要快,又要安全:以软件定义汽车的速度构建可信出行架构

    在电动汽车(EV)和软件定义汽车(SDV)时代,真正的约束不再是功能开发速度,而是在从架构设计到在线(OTA)更新的全生命周期中,让开发交付速度具备“复利效应”,同时不影响安全性、可靠性和经济性。

  • 利用LTspice®的FFT分析功能测量电容器有效纹波电流

    本文为电源设计人员提供了一套行之有效的方法,用于测量开关电源中铝电解电容(Al-Ecaps)的有效纹波电流,该参数是估算电容使用寿命的关键依据。这套方法借助LTspice处理实测数据,能够精确计算有效纹波电流,而纹波电流正是导致电容内部发热、加速性能衰减的核心诱因。这套方法将示波器采集的数据转换为分段线性(PWL)信号源,通过自动快速傅立叶变换(FFT)分析,计入与频率相关的加速因子。借助这套工作流,无需使用昂贵测试设备,也不必依赖过于简化的近似估算,即可完成对电容有效纹波电流及对应内部温升的验证。

  • 片上系统专用大功率单芯片集成电路

    在片上系统(SoC)应用中,集成电源管理芯片(PMIC)供电的电源方案需满足多项严苛的性能指标:不仅要大输出电流,还需实现负载瞬态响应速度快、波动小,同时兼具低电磁兼容(EMC)干扰特性、低温升、休眠模式下低功耗等特性。

  • 面向高密度应用的多相、超薄、低噪声电源解决方案

    超薄、低噪声、多相电源解决方案,正不断突破高密度电子系统的传统限制。此类解决方案兼具小尺寸与大电流能力,使设计人员能够满足严苛的瞬态和效率要求,而不必牺牲宝贵的电路板空间。先进的多相架构支持快速瞬态响应,输出纹波更低,散热性能更佳,对于散热受限且重视信号完整性的应用非常有帮助。

  • 医用级工业PC中高速HDMI®信号的电气隔离设计

    本文介绍了一种面向医用级工业计算机的电气隔离HDMI接口,可在满足IEC 60601-1 MOPP/MOOP安全要求的同时,支持高达1080p @ 60Hz的高速视频传输。本文提出的架构以高速LVDS数字隔离器为基础,采用交流耦合和精心设计的偏置与端接网络,实现了TMDS CML域与LVDS域之间的转换,同时确保符合HDMI物理层规范。这种方法也适用于其他需要数Gbps数据速率和2×MOPP保护的医疗和工业成像链路。

  • 利用波特图显示控制环路特性

    本文解释了为何要利用波特图来展示电源环路的传递函数。虽然存在时域负载瞬态测试,但这种测试并不能揭示波特图所能提供的其他重要信息。读者将了解二者的区别,并认识到波特图计算、仿真与测量的实际意义。

  • 在探针卡层面进行集成,实现ATE系统中的可扩展LCR测量

    随着半导体测试向更高复杂性与并行度演进,多工位自动测试设备(ATE)和SiC/GaN测试对电感、电容和电阻(LCR)测量的需求不断提升。然而,传统的外接台式LCR仪表和基于线缆的设置难以扩展,而且会降低可重复性。本文介绍了一种嵌入式模块化LCR方案,并结合探针卡集成案例,说明了如何实现可扩展的并行LCR测试。文章最后展望了这种方案在未来ATE中的应用。

  • 800V:驱动超大规模数据中心的未来

    热插拔控制器正转型升级为供电入口节点与首道防线,可提供实时遥测数据、支持预测性维护、优化容量规划,同时提升能耗预测精度并实现主动式故障预防。

  • 借助安全事项应用笔记实现安全设计——第4部分:使用功能安全型器件

    ADI公司的工业功能安全(FS)产品系列包含四类器件,如表1所示。所谓功能安全型器件,是指如下的标准集成电路(IC)或产品:本身并不符合任何功能安全标准,但凭借所具备的功能与特性1和广泛应用经验,外加可通过安全应用笔记获取的功能安全文档,被ADI推荐用于功能安全场景。

  • 借助安全事项应用笔记实现安全设计——第3部分:提升功能安全性能

    对安全功能电路进行首次失效模式、影响与诊断分析(FMEDA)后,结果只有两种。第一种结果是系统完整性等级(SIL)要求得到满足,第二种结果是要求未能满足。对于后者,要在不进行重大架构变更的情况下解决问题,系统集成商可以提高诊断覆盖率、调整运行条件和/或采用额外安全措施。ADI公司安全应用笔记中的信息可以帮助系统集成商实施此类设计改进,从而达到每小时危险失效概率(PFH)/按需危险失效概率(PFDAVG)和安全失效比率(SFF)要求。因此,本系列的第3部分深入探讨系统集成商如何使用功能安全(FS)型器件的安全应用笔记,来提升IC在系统中的功能安全性能。

  • 借助安全事项应用笔记实现安全设计——第2部分:FMEDA数据导入

    在完成合理性校验,确认器件功能安全(FS)失效率、失效模式分布(FMD)及引脚失效模式与影响分析(FMEA)的推导假设成立后,系统集成商下一步需将这些数据导入其系统的失效模式、影响与诊断分析(FMEDA)中。ADI的安全事项应用笔记提供了多种计算失效率、裸片FMD及引脚FMEA的方法。系统集成商可根据自身在安全相关系统(SRS)设计或通过FMEDA开展技术安全分析的经验,采用不同方式来运用这些信息。本系列文章第2部分旨在介绍一种结合裸片FMD与引脚FMEA来推导FS器件的失效率分布的方法。

  • 借助安全事项应用笔记实现安全设计——第1部分:开始使用

    ADI公司的工业功能安全(FS)产品系列中包含支持FS特性的器件,这些器件的安全事项应用笔记可在相应的产品页面上公开查阅。这些安全事项应用笔记提供了器件的FS信息,例如失效率、失效模式分布(FMD)、引脚失效模式与影响分析(FMEA)等。借助此类笔记,系统集成商能轻松获取重要信息,高效完成安全相关的系统设计。因此,本系列文章的第一部分将讨论系统集成商在使用器件的安全事项应用笔记之前,需要进行哪些推荐的健全性检查。

简介
Analog Devices, Inc.(简称ADI)始终致力于设计与制造先进的半导体产品和优秀解决方案,凭借杰出的传感、测量和连接技术,搭建连接真实世界和数字世界的智能化桥梁,从而帮助客户重新认识周围的世界。
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